[发明专利]一种测试治具有效
| 申请号： | 201811552954.8 | 申请日： | 2018-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN109596864B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 赵鑫 | 申请（专利权）人： | 上海创功通讯技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 戴莹瑛 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
1.一种测试治具，其特征在于，包括：用于固定带有待测天线的壳体的支架、用于承载所述支架的测试电路板；所述测试电路板具有与测试装置电性连接的金属馈电区；
所述测试治具还包括：设在所述金属馈电区上的电性连接组件，所述电性连接组件用于与所述待测天线电性连接；
所述测试治具还包括：与所述金属馈电区电性连接的耦合件，所述耦合件用于与所述待测天线耦合，并模拟手机内金属器件与所述待测天线的耦合。
2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述支架包括：相对设置的上架体和下架体，所述待测天线被夹持在所述上架体与所述下架体之间；
所述耦合件设在所述下架体朝向所述电路板的一侧；
或者，所述耦合件设置于所述金属馈电区上。
3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述连接组件包括：若干个设在所述金属馈电区上的金属连接件，所述下架体上开设若干贯穿孔，所述贯穿孔与所述金属连接件数量相同且位置一一对应，各所述连接件用于穿过各自所对应的所述贯穿孔并进入所述壳体内与所述待测天线电性抵持。
4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，各所述金属连接件为弹性金属连接针。
5.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述金属馈电区包括：导电部和若干净空部，所述净空部的数量与所述壳体内的净空区的数量相同并一一对应，且各所述净空部均完全挡住各自所对应的所述净空区。
6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于，各所述净空部内至少设有一个所述金属连接件，且各所述净空部内的所述金属连接件均通过馈电线路与所述导电部电性连接。
7.根据权利要求5所述的测试冶具，其特征在于，所述导电部为设置于所述测试电路板上的铜箔。
8.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述下架体呈长方形设置，所述下架体具有两个相对的长侧和两个相对的宽侧，所述耦合件靠近任意一个所述宽侧设置。
9.根据权利要求2所述的测试冶具，其特征在于，所述耦合件包括：设在所述下架体上的绝缘架体、设在所述绝缘架体上的耦合天线。
10.根据权利要求9所述的测试冶具，其特征在于，所述绝缘架体与所述下架体一体成型。
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