[发明专利]用于实时地监测存储器模块的信息的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201811532002.X 申请日: 2018-12-14
公开(公告)号: CN110083502A 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 李荣镐;朴星柱;尹永;金龙进;李载濬 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张青
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 存储器装置 回环通道 存储器模块 测试信号 测试装置 回环 信息管理电路 操作存储器 回环电路 信息输出 反馈 监测 申请
【说明书】:

本申请提供一种存储器装置、一种存储器模块和一种操作存储器模块的方法,存储器装置包括:回环电路,其用于执行回环操作,其中回环操作包括经回环通道接收从测试装置提供的测试信号,并且经回环通道将测试信号反馈至测试装置;以及信息管理电路,其用于将存储器装置的信息输出至回环通道。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2018年1月26日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2018-0010119的优先权,该申请的公开以引用方式全文并入本文中。

技术领域

本发明构思涉及一种存储器系统,并且更具体地说,涉及实时地监测存储器模块的信息。

背景技术

存储器模块是安装有半导体存储器装置的印刷电路板。存储器模块有多种类型,诸如注册双联机存储器模块(RDIMM)、负载降低的DIMM(LRDIMM)、未缓冲或未注册的DIMM(UDIMM)或小轮廓DIMM(SODIMM)。在使用中,将存储器模块插入至印刷电路板或母板的插孔中。

随着存储器模块的集成度和操作速度的提高,存储器模块本身会产生大量的热量。例如,随着存储器模块之间的气隙减小,存储器模块产生更多的热量。这可以增加使用存储器模块的系统内的温度。由于从存储器模块产生的热量可导致存储器模块操作不良或导致系统变慢,因此需要实时监测和控制存储器模块的温度。

发明内容

根据本发明构思的示例性实施例,提供了一种存储器装置,该存储器装置包括:回环电路,其用于执行回环操作,其中回环操作包括经回环通道接收从测试装置提供的测试信号,并且经回环通道将测试信号反馈至测试装置;以及信息管理电路,其用于将存储器装置的信息输出至回环通道。

根据本发明构思的示例性实施例,提供了一种存储器模块,该存储器模块包括:印刷电路板;连接器,其布置在印刷电路板上;多个存储器装置,其安装至印刷电路板;以及缓冲器芯片,其安装至印刷电路板,其中缓冲器芯片为所述多个存储器装置提供被提供至印刷电路板的连接器的信号,其中,所述多个存储器装置中的每一个包括:回环电路,其用于执行回环操作,其中,回环操作包括经缓冲器芯片接收提供至回环通道的测试信号,并且经缓冲器芯片将测试信号反馈至回环通道,其中回环通道连接至印刷电路板的一些连接器;以及信息管理电路,其用于经缓冲器芯片将存储器装置的信息输出至回环通道。

根据本发明构思的示例性实施例,提供了一种操作存储器模块的方法,所述方法包括以下步骤:在对安装至存储器模块的存储器装置的有效性测试的测试操作中,执行回环操作,其中,存储器装置经回环通道将测试信号反馈至测试设备,其中从测试设备接收到测试信号;在对存储器模块的数据处理操作中,执行存储器装置的写操作或读操作;以及利用回环通道输出从存储器装置中选择的存储器装置的信息。

附图说明

通过参照附图详细描述本发明构思的示例性实施例将更清楚地理解本发明构思的以上和其它特征,其中:

图1是示出根据本发明构思的示例性实施例使用的回环通道的示意图;

图2是示出根据本发明构思的示例性实施例的包括存储器装置的存储器模块的框图;

图3是示出根据本发明构思的示例性实施例的存储器装置的示图;

图4是根据本发明构思的示例性实施例的描绘图3的热传感器的特征的曲线图;

图5是示出根据本发明构思的示例性实施例的包括存储器装置的存储器模块的框图;

图6是示出根据本发明构思的示例性实施例的图5的缓冲器芯片的示图;

图7是示出根据本发明构思的示例性实施例的包括存储器装置的存储器模块的框图;

图8是示出根据本发明构思的示例性实施例的包括存储器装置的存储器模块的框图;

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