[发明专利]一种准直器孔径及探测器位置的自适应调节方法在审

专利信息
申请号: 201811444789.4 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN109765600A 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 牛德青;李进;彭建龙;杨素;韩强;张锐;刘洋 申请(专利权)人: 绵阳市维博电子有限责任公司
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167;G01T1/178
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 戴勇灵
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 透射 探测装置 准直器 发射测量 源装置 测量 废物 探测器位置 自适应调节 探测器 测量转台 传送装置 精准定位 预设位置 检测
【权利要求书】:

1.一种准直器孔径及探测器位置的自适应调节方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

S1:废物桶通过桶传送装置传送到测量转台,并精准定位在测量转台上;

S2:探测装置对废物桶位置进行检测,所述探测装置内设置有准直器和探测器;

S3:探测装置到达预设位置后,开启透射源装置,进行预透射测量;

S4:随后关闭透射源装置,进行预发射测量,根据预透射测量和预发射测量结果,调节探测装置中探测器与废物桶之间距离,并同时调节准直器孔径;

S5:调节完毕后,重新开启透射源装置,进行正常透射测量和发射测量。

2.根据权利要求1所述的一种准直器孔径及探测器位置的自适应调节方法,其特征在于,开启透射源装置进行预透射的测量时间为30s,关闭预透射装置进行预发射的测量时间为30s。

3.根据权利要求2所述的一种准直器孔径及探测器位置的自适应调节方法,其特征在于,当预透射和预发射的探测死时间小于或等于20%时,直接进行正常透射量和发射量检测;当预透射的探测死时间大于20%且预发射的探测死时间小于20%时,将准直器孔径调整为D1,探测器相对于废物桶的位置调整为L1后进行正常透射量和发射量的检测;当预透射的探测死时间小于20%且预发射的探测死时间大于20%时,将准直器孔径调整为D2,探测器位置调整为L2后进行正常透射量和发射量的检测;当预透射和预发射的探测死时间均大于20%时,将准直器孔径调整为D3,探测器相对于废物桶的位置调整为L3,再进行正常透射量和发射量的检测。

4.根据权利要求3所述的一种准直器孔径及探测器位置的自适应调节方法,其特征在于,准直器孔径D3<D2<D1,所述探测器相对于废物桶的位置L1<L2<L3

5.根据权利要求1所述的一种准直器孔径及探测器位置的自适应调节方法,其特征在于,在步骤S5进行正常透射测量后,计算透射衰减函数并同时计算测量单元的线性衰减系数,得到效率刻度函数,在正常发射测量完成后,调用效率刻度函数测量单元内放射性核素活度。

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