[发明专利]一种操作存储器的方法

说明书

本发明可提供一种包括多个芯片的存储器的错误校正方法和芯片猎杀检测方法。该方法可包括第一数据错误检测步骤，检测从多个芯片输出的数据中是否存在错误。该方法可包括随机错误校正步骤，当在第一数据错误检测步骤中检测到存在错误时，校正数据中出现的错误。该方法可包括芯片猎杀检测步骤，在随机错误校正步骤之后仍出现错误时确定已经发生了芯片猎杀错误，并且通过将多个芯片中的一个芯片假设为已经发生了芯片猎杀错误的芯片来校正错误，从而检测已经发生了芯片猎杀错误的芯片。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年11月29日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2017-0161574的韩国申请的优先权，其全部内容通过引用并入本文。

技术领域

各个实施例总体涉及一种存储器技术，更特别地，涉及错误校正方法和芯片猎杀(chip kill)检测方法。

背景技术

存储器被配置成存储数据并输出所存储的数据。待存储在存储器中的数据被存储在存储器单元中，并且存储器由多个存储器单元的集合构成。

因为存储器由多个存储器单元构成，所以存储器可包括相对少量的失败存储器单元，或者可包括相对大量的失败存储器单元。

而且，即使存储器单元正常，错误数据也可能被存储在存储器单元中。

正在开发技术，以允许即使由于许多不稳定因素而在存储器中存储了错误数据或者存在失败存储器单元的情况下，存储器也能正常存储和输出数据。

发明内容

在实施例中，可提供一种包括多个芯片的存储器的错误校正方法和芯片猎杀检测方法。该方法可包括第一数据错误检测步骤，检测从多个芯片输出的数据中是否存在错误。该方法可包括随机错误校正步骤，当在第一数据错误检测步骤中检测到存在错误时，校正数据中出现的错误。该方法可包括芯片猎杀检测步骤，在随机错误校正步骤之后仍出现错误时确定已经发生了芯片猎杀错误，并且通过将多个芯片中的一个芯片假设为已经发生了芯片猎杀错误的芯片来校正错误，从而检测已经发生了芯片猎杀错误的芯片。

附图说明

图1是示出根据实施例的存储器的示例代表的配置图。

图2是根据实施例的帮助说明错误校正方法和芯片猎杀错误检测方法的流程图的示例代表。

图3是帮助说明图2的芯片猎杀错误检测方法之后的存储器错误校正方法的流程图的示例代表。

图4是帮助说明图2的芯片猎杀错误检测方法之后的芯片修复方法的流程图的示例的示例代表。

图5示出了采用上面关于图1至图4讨论的各个实施例的存储器和/或方法的系统的示例代表的框图。

具体实施方式

在下文中，将通过实施例的各个示例参照附图来描述错误校正方法和芯片猎杀检测方法。

参照图1，根据实施例的存储器可包括例如第一至第四芯片100、200、300和400的多个芯片以及控制器500。例如，在实施例中，控制器500可利用软件、硬件或其任意组合来实施。例如，在实施例中，存储器可利用软件、硬件或其任意组合来实施。例如，在实施例中，芯片可利用软件、硬件或其任意组合来实施。

第一至第四芯片100、200、300和400与控制器500电联接，并且被配置成传输和接收数据。为了向控制器500传输数据和从控制器500接收数据、存储数据和输出存储的数据，第一至第四芯片100、200、300和400中的每一个不仅传输和接收数据，还传输和接收诸如命令、地址和时钟的控制信号。