[发明专利]抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备

说明书

本公开是关于一种抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备，所述抖动时间的确定方法包括确定集成电路输出信号的多个检测时间点；将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较，以判断每个所述检测时间点是否为抖动点；根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。本公开可以在不需要额外设备的情况下确定出集成电路芯片输出信号的抖动时间。

技术领域

本公开涉及集成电路测试技术领域，具体而言，涉及一种抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备。

背景技术

随着电子及通信技术的发展，抖动(jitter)不仅在模拟设计中是一个重要的考虑因素，在数据设计领域，也日益得到人们的重视。抖动可以被理解为对信号时域变化的测量结果，抖动描述了信号周期距离其理想值的偏离程度。

目前，通常采用示波器对信号的波形进行测量，以确定出抖动时间。然而，一方面，这种测量手段需要在测试机上配置示波器，或外接示波器；另一方面，示波器对单波形进行测量，也就是说，示波器一般难以对多个波形进行测量，效率较低；再一方面，示波器往往需要测试人员手动调节，操作复杂。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备，进而至少在一定程度上克服现有技术中采用示波器测量抖动时间而造成过程复杂的问题。

根据本公开的第一方面，提供一种一种抖动时间的确定方法，包括：

确定集成电路输出信号的多个检测时间点；

将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较，以判断每个所述检测时间点是否为抖动点；

根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。

根据本公开的一实施方式，所述将多个所述检测时间点的信号分别和预设信号进行比较，以判断每个所述检测时间点的信号是否为抖动点，包括：

比较每个所述检测时间点的输出信号和所述预设信号；

如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致，则所述检测时间点不是抖动点；

如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号不一致，则所述检测时间点是抖动点；

其中，所述预设信号为集成电路芯片预期输出信号。

根据本公开的一实施方式，所述比较每个所述检测时间点的输出信号和所述预设信号，包括：

多次重复获取所述检测时间点的输出信号，比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号；

统计多次比较所述检测时间点的输出信号和所述预设信号的结果。

根据本公开的一实施方式，所述如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致，则所述检测时间点不是抖动点，包括：

如果多次获取的所述检测时间点的输出信号均和所述预设信号一致，则所述检测时间点不是抖动点。

根据本公开的一实施方式，所述多次重复获取所述检测时间点的输出信号，比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号，包括：

如果多次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号至少一次不一致，则所述检测时间点是抖动点。

根据本公开的一实施方式，所述将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较，以判断每个所述检测时间点是否为抖动点，包括：

重复输入多次输入信号，以重复获取多个输出信号；