[发明专利]一种瞬发中子衰减常数获得方法、装置、设备及系统在审
| 申请号: | 201811342189.7 | 申请日: | 2018-11-12 |
| 公开(公告)号: | CN109490945A | 公开(公告)日: | 2019-03-19 |
| 发明(设计)人: | 谢金森;于涛;谢芹;陈珍平;赵鹏程;曾文杰;谢超;刘紫静 | 申请(专利权)人: | 南华大学 |
| 主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
| 地址: | 421001 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 瞬发 计数率 时间谱 衰减常数 高阶谐波 基波衰减 目标脉冲 目标时刻 次临界 反应堆 可读存储介质 脉冲中子源 设备及系统 周期性脉冲 比值计算 获得装置 技术效果 脉冲周期 拟合处理 指数衰减 衰减 | ||
1.一种瞬发中子衰减常数获得方法,其特征在于,包括:
利用脉冲中子源向次临界反应堆注入周期性脉冲中子;
在目标脉冲周期内,获取所述次临界反应堆内不同位置的中子计数率时间谱;其中,所述中子计数率时间谱包括多个时间点的中子计数率;
对获取到的不同位置的中子计数率时间谱进行比值计算,获得相对中子计数率时间谱;
利用所述相对中子计数率时间谱,确定出瞬发中子高阶谐波衰减完毕的目标时刻;
在所述目标脉冲周期内,对所述目标时刻至所述脉冲周期的结束时刻之间的中子计数率进行指数衰减拟合处理,获得瞬发中子基波衰减常数。
2.根据权利要求1所述的瞬发中子衰减常数获得方法,其特征在于,所述获取所述次临界反应堆内不同位置的中子计数率时间谱,包括:
利用与所述次临界反应堆中不同位置的中子探测器相连接的时间多道分析器,获取所述次临界反应堆中不同位置的中子探测器在目标脉冲周期内分别记录的多个时间点的中子计数率。
3.根据权利要求1所述的瞬发中子衰减常数获得方法,其特征在于,对获取到的不同位置的中子计数率时间谱进行比值计算,获得相对中子计数率时间谱,包括:
在获取到的中子计数率时间谱中确定出一个基准中子计数率时间谱;
将获取到的不同位置的中子计数率时间谱与所述基准中子计数率时间谱进行比值计算,获得不同位置的相对中子计数率时间谱。
4.根据权利要求1至3任一项所述的瞬发中子衰减常数获得方法,其特征在于,利用所述相对中子计数率时间谱,确定出瞬发中子高阶谐波衰减完毕的目标时刻,包括:
利用所述相对中子计数率时间谱,确定出在预设时长内的变化差值小于预设阈值的目标时刻;其中,所述目标时刻为瞬发中子高阶谐波衰减完毕的时刻。
5.一种瞬发中子衰减常数获得装置,其特征在于,包括:
周期性脉冲中子注入模块,用于利用脉冲中子源向次临界反应堆注入周期性脉冲中子;
中子计数率时间谱获取模块,用于在目标脉冲周期内,获取所述次临界反应堆内不同位置的中子计数率时间谱;其中,所述中子计数率时间谱包括多个时间点的中子计数率;
相对中子计数率时间谱计算模块,用于对获取到的不同位置的中子计数率时间谱进行比值计算,获得相对中子计数率时间谱;
目标时刻确定模块,用于利用所述相对中子计数率时间谱,确定出瞬发中子高阶谐波衰减完毕的目标时刻;
瞬发中子基波衰减常数获取模块,用于在所述脉冲周期内,对所述目标时刻至所述目标脉冲周期的结束时刻之间的中子计数率进行指数衰减拟合处理,获得瞬发中子基波衰减常数。
6.根据权利要求5所述的瞬发中子衰减常数获得装置,其特征在于,所述目标时刻确定模块,具体用于利用所述相对中子计数率时间谱,确定出在预设时长内的变化差值小于预设阈值的目标时刻;其中,所述目标时刻为瞬发中子高阶谐波衰减完毕的时刻。
7.一种瞬发中子衰减常数获得设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述瞬发中子衰减常数获得方法的步骤。
8.一种瞬发中子衰减常数获得系统,其特征在于,包括:
脉冲中子源、至少两个中子探测器、时间多道分析器和如权利要求7所述的瞬发中子衰减常数获得设备;其中,所述脉冲中子源用于向次临界反应堆注入周期性脉冲中子;所述中子探测器布置于所述次临界反应堆中,以记录所在位置的中子计数率;所述时间多道分析器的输入端与所述中子探测器相连接,所述时间多道分析器的输出端与所述瞬发中子衰减常数获得设备相连接。
9.根据权利要求8所述的瞬发中子衰减常数获得系统,其特征在于,还包括:
所述中子探测器通过放大器与所述时间多道分析器相连接。
10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述瞬发中子衰减常数获得方法的步骤。
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