[发明专利]显示面板检测方法、装置和显示装置

说明书

本申请涉及一种显示面板检测方法、装置和显示装置，包括：获取显示面板的画面数据，并根据画面数据得到显示面板的目标共极电压；根据目标共极电压、预设的灰阶电压和预设的馈入电压计算公式，得到馈入电压，预设的馈入电压计算公式表征馈入电压与目标共极电压、预设的灰阶电压的对应关系；根据馈入电压，得到显示面板的馈入效应检测结果。通过上述显示面板检测方法、装置和显示装置，不需要通过第三方模拟软件测量寄生电容的大小，不会因为模拟失真使结果出现偏差，具有测量结果可靠性强的优点。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板检测方法、装置和显示装置。

背景技术

随着液晶显示技术的飞速发展，人们对液晶显示器的显示效果追求越来越高。在液晶显示器中，像素电极的电压电平受到TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板上寄生电容或存储电容等的影响而发生偏移，即发生馈入效应。此时需要根据发生偏移产生的馈入电压对液晶显示器的共极电压(Common Voltage,VC0M)进行修正，避免共极电压偏离液晶显示面板的正极性像素电压及负极性像素电压的中间值，导致液晶显示面板显示画面在极性反转时发生闪烁(Flicker)。

传统的显示面板检测方法需要通过第三方模拟软件测量寄生电容的大小，从而透过计算的方式得到馈入电压的大小，通过第三方模拟软件会导致模拟结果与实际失真，使得测量结果不准确。因此，传统的显示面板检测方法存在测量结果可靠性差的问题。

发明内容

基于此，有必要针对传统的显示面板检测方法的测量结果可靠性差的问题，提供一种显示面板检测方法、装置和显示装置。

一种显示面板检测方法，所述方法包括：获取显示面板的画面数据，并根据所述画面数据得到显示面板的目标共极电压；根据所述目标共极电压、预设的灰阶电压和预设的馈入电压计算公式，得到馈入电压，所述预设的馈入电压计算公式表征所述馈入电压与所述目标共极电压、所述预设的灰阶电压的对应关系；根据所述馈入电压，得到显示面板的馈入效应检测结果。

在一个实施例中，所述获取显示面板的画面数据，并根据所述画面数据得到显示面板的目标共极电压的步骤，包括：调节所述显示面板的共极电压，获取对显示面板在不同共极电压时灰阶闪烁画面发生闪烁时采集得到的画面数据；根据所述画面数据得到不同共极电压下的闪烁值，并将所述闪烁值最小时对应的共极电压作为目标共极电压。

在一个实施例中，所述根据所述画面数据得到不同共极电压下的闪烁值包括：获取所述灰阶闪烁画面的交流数据和直流数据；根据所述交流数据和所述直流数据，得到相应的闪烁值。

在一个实施例中，所述根据所述交流数据和所述直流数据，得到相应的闪烁值的步骤为：其中，S为闪烁值，A为交流数据，D为直流数据。

在一个实施例中，所述根据所述画面数据得到不同共极电压下的闪烁值包括：获取所述灰阶闪烁画面的第一频率数据和第二频率数据；根据所述第一频率数据和所述第二频率数据，得到相应的闪烁值。

在一个实施例中，所述根据所述第一频率数据和所述第二频率数据，得到相应的闪烁值的步骤为：其中，S为闪烁值，P_X为第一频率数据，P_O为第二频率数据。

在一个实施例中，所述预设的灰阶电压包括正灰阶电压和负灰阶电压，所述根据所述目标共极电压、预设的灰阶电压和预设的馈入电压计算公式，得到馈入电压的步骤为：其中，ΔV_p为馈入电压，为正灰阶电压，为负灰阶电压，V′_com为目标共极电压。