[发明专利]一种测序仪激光扩束器的调试方法及装置

说明书

本申请公开了一种测序仪激光扩束器的调试方法及装置，调试方法，检测激光扩束器发射激光的同一个焦面上若干位置的激光光强值；根据若干个位置的激光光强值计算出扩束器的偏离系数，并计算出调节角度值；根据计算出的调节角度值调节激光扩束器上的调节旋钮，进行对焦调试。由于检测发射激光在同一焦面上的不同位置的光强大小，再通过进行计算分析得到激光光强的均一性，并且计算出调节的角度值，调试人员可根据计算出的调节角度值对测序仪激光扩束器进行对焦调节，实现测序仪激光扩束器的均一性调试，本调试方法及装置借助设备完成，调试的精度高和效率高。

技术领域

本发明涉及基因测序的光学设备，具体涉及一种测序仪激光扩束器的调试方法及装置。

背景技术

基因测序过程中通过激光器发生测序光，激光器为点光源发出发散式的光，而基因测序芯片需要扫描的空间为一条线段，故需要将点光源转换为线光源。

目前采用可调节的测序仪激光扩束器作为测序仪的光源，激光扩束器内包括激光器(点光源)和扩束器，扩束器包括位于激光器发射光的光路上的固定镜片和移动镜片，激光扩束器的外部设有一个调节旋钮，调节旋钮与移动镜片连接，用于调节移动镜片与固定镜片之间的间距，以实现扩束器的对焦调节，使得穿过扩束器的光束均匀稳定。

但现有技术中，只能通过肉眼查看激光的均匀性，再进行调节，此方法调节的精度低、需多次反复调节才能到达一个一般的效果，并且长时间肉眼查看激光对实力伤害较大。

发明内容

本申请提供一种调试精度和效率都很高的测序仪激光扩束器的调试方法及装置。

一种实施例中提供一种测序仪激光扩束器的调试方法，包括如下步骤：

检测激光扩束器发射激光的同一个焦面上若干位置的激光光强值；

根据若干个位置的激光光强值计算出扩束器的偏离系数，并计算出调节角度值；

根据计算出的调节角度值调节激光扩束器上的调节旋钮，进行对焦调试。

进一步地，激光扩束器发射若干个次激光进行检测，检测出若干个组激光光强值，在相同的位置检测出一组底光光强值，根据一组底光光强值和若干组激光光强值计算调节角度值。

进一步地，将每个位置点的激光光强值求平均值后减去底光光强值，再导入如下回归方程式计算调节角度值：

y＝a ln(x)+b，θ＝a/2π

其中，y为平均光强值、x为检测的光强值，a为偏离系数，b为常数；θ为调节角度值。

在其他实施例中，调节激光扩束器上的调节旋钮对焦后，再重复若干次调试步骤进行校对。

一种实施例中提供一种实现上述的测序仪激光扩束器的调试方法的调试装置，包括：

若干个并排设置的激光功率传感器，激光功率传感器用于置于激光扩束器的光路上，并且若干个并排的激光功率传感器与光轴垂直设置，激光功率传感器用于获取激光照射并生成激光光强信号；

处理器，处理器与若干个激光功率传感器信号连接，用于收集激光功率传感器生成的激光光强信号，并计算出调节角度值；

显示器，显示器与处理器信号连接，用于显示调节角度值。

进一步地，调试装置还包括安装座，安装座上设有若干个等间距并排的安装槽，激光功率传感器安装在安装座的安装槽内。

进一步地，激光功率传感器具有8个，并且与测序仪激光扩束器的发射端之间的间距均为10cm。

进一步地，调试装置还包括驱动装置，驱动装置的输出端与激光扩束器上的调节旋钮连接，或者驱动装置的输出端与扩束器的移动镜片连接；驱动装置还与处理器连接，驱动装置用于驱动移动镜片移动。