[发明专利]LED灯珠及其检测装置

说明书

本发明公开了一种LED灯珠，包括灯珠本体，所述灯珠本体包括衬体、引脚面、发光面、LED芯片，所述衬体为空心柱体结构，所述发光面设置于衬体的上表面，所述引脚面设置于衬体的下表面，所述LED芯片封装在衬体的内部并位于发光面一侧，所述灯珠本体的质心偏向于发光面所在侧。一种LED灯珠检测装置，用于上述所述LED灯珠的检测。本发明通过改进LED灯珠本体的结构，进而改变了LED灯珠在震动传输通道上的取向分布几率，通过调整LED灯珠光电检测设备的检测方向设置，使得在已定的LED灯珠取向条件下，通过测量位置的LED灯珠样品的速度大幅提升，从而提高了LED光电检测效率。

技术领域

本发明涉及LED检测技术领域，特别是涉及一种通过改进LED灯珠本体结构设计和测量方式提高LED光电检测效率的方法。

背景技术

随着LED显示屏产品精致化、高分辨率、小像素方向发展的要求，显示型LED灯珠的几何尺寸日趋减小，这给LED灯珠的检测、编带分装、显示屏组装带来挑战。

传统LED呈扁平结构，由图1所示，尺寸上其边长a和b都要大于其高度c。而随着LED封装技术的发展，显示器用的LED灯珠，在发光面的尺寸越来越小，如图2所示，其尺寸上其边长a和b都要接近于c，或不再大于c，这样显示器用的LED不再是一个扁平的结构，而变成接近立方体，甚至方柱体结构。这种LED灯珠几何尺寸上的变化，给显示器用的LED灯珠在检测、分选、编带封装等检测、加工工艺上造成巨大的困难。

在光检设备里，如图3、图4所示，有一个图像判别的摄像头6，来识别LED灯珠的位置取向，在机械执行器的辅助下，只让发光面向上的LED灯珠的灯珠本体1到达测试载台7上，进行测试。这种光电检测设备的测量速度，取决于正确取向的灯珠本体1到达测量载台7的速度。对于传统显示器用的LED，由图3所示，假设扁平形状的LED灯珠质心在灯珠本体1正中心，那么灯珠本体1在震动传输通道9上正确取向的几率是50％。当LED灯珠不再是扁平状，呈立方体结构时，如由图4所示，灯珠本体1在震动传输通道9上除了发光面4向上和向下两种位置取向外，还会有发光面4朝向水平方向的可能状态，假设LED灯珠是一个完全立方体，且质心在灯珠本体1的中心，那么灯珠本体1在震动传输通道9上正确取向的几率是16.7％。如果LED灯珠是一个方柱体，在传统测量方式里，灯珠本体1在震动传输通道上正确取向的几率<16.7％。

这种LED灯珠几何形状的变化，极大的降低了LED灯珠检测设备的测量效率。

同样的，这种LED灯珠几何形状的变化，也会减低采取同样样品传输(如依靠震动传输通道)的其他检测，以及加工设备的工作速度，影响LED封装厂商的产能和设备利用效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种LED灯珠及其检测装置，通过改进LED灯珠的本体结构及测量方式，提高LED光电设备的检测效率。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种LED灯珠，包括灯珠本体，所述灯珠本体包括衬体、引脚面、发光面、LED芯片；

所述衬体为空心柱体结构，所述发光面设置于衬体的上表面，所述引脚面设置于衬体的下表面，所述LED芯片封装在衬体的内部并位于发光面一侧；

所述灯珠本体的质心偏向于发光面所在侧。

进一步的，所述衬体的外形为正四棱台结构，其嵌装有发光面的端部轮廓尺寸大于嵌装有引脚面的端部轮廓尺寸。

进一步的，所述衬体纵切面形状为倒“凸”形，所述发光面设于衬体的上表面，所述引脚面设于衬体的下表面。

进一步的，所述衬体包括上衬底层、下衬底层，上衬底层的密度大于下衬底层的密度，所述发光面设于上衬底层的顶面，所述引脚面设于下衬底层的底面。

进一步的，所述引脚面上设有若干凹槽。