[发明专利]一种光纤的损耗吸收测量系统及方法

权利要求书

1.一种损耗吸收测量方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：S1包层损耗与吸收测量步骤以及S2纤芯损耗与吸收测量步骤；

所述包层损耗与吸收测量步骤具体为：

S11通过第一控制器控制光开关与光纤合束器泵浦端P4连通，并将第一待测光纤两端分别与光纤合束器输出端和多模光纤熔接；

S12启动测量系统得到第一传输光谱，并将第一待测光纤截短后与所述多模光纤熔接，再次启动测量系统得到第二传输光谱，根据所述第一传输光谱和所述第二传输光谱获得所述待测光纤的包层损耗谱；

S13将第二待测光纤替换所述第一待测光纤，并将第二待测光纤两端分别与光纤合束器输出端和所述多模光纤熔接；

S14启动测量系统得到第三传输光谱，并将第二待测光纤截短后与所述多模光纤熔接，再次启动测量系统得到第四传输光谱，根据所述第三传输光谱和所述第四传输光谱获得所述待测光纤的包层吸收谱；

其中，所述第一待测光纤的长度大于所述第二待测光纤的长度；

所述纤芯损耗与吸收测量步骤具体为：

S21通过第一控制器控制光开关与光纤合束器信号端P3连通，并将第一待测光纤两端分别与光纤合束器输出端和所述多模光纤熔接；

S22启动测量系统得到第一传输光谱，并将第一待测光纤截短后与所述多模光纤熔接，再次启动测量系统得到第二传输光谱，根据所述第一传输光谱和所述第二传输光谱获得所述待测光纤的纤芯损耗谱；

S23将第二待测光纤替换所述第一待测光纤，并将第二待测光纤两端分别与光纤合束器输出端和所述多模光纤熔接；

S24启动测量系统得到第三传输光谱，并将第二待测光纤截短后与所述多模光纤熔接，再次启动测量系统得到第四传输光谱，根据所述第三传输光谱和所述第四传输光谱获得所述待测光纤的纤芯吸收谱；

其中，所述第一待测光纤的长度大于所述第二待测光纤的长度。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：通过第二控制器来控制恒温箱的温度，且温度范围设置为0℃～50℃。

3.一种用于实现权利要求1所述的方法采用的光纤损耗吸收测量系统，其特征在于，包括：宽带光源(1)，光开关(2)，第一控制器(8)，光纤合束器(3)，多模光纤(6)和光谱仪(7)；

所述光开关(2)的输入端连接至所述宽带光源(1)的输出端，所述光纤合束器(3)的信号端P3连接至所述光开关(2)的第一输出端，所述光纤合束器(3)的泵浦端P4连接至所述光开关(2)的第二输出端，所述多模光纤(6)的一端连接至待测光纤(4)的一端，所述多模光纤(6)的另一端连接所述光谱仪(7)；所述待测光纤(4)的另一端用于连接至所述光纤合束器(3)的输出端；所述第一控制器(8)连接至所述光开关(2)的控制端；

所述宽带光源(1)输出的信号光经过所述光开关(2)后由所述第一控制器(8)选择从所述光开关(2)的第一输出端输出后注入所述光纤合束器(3)的信号端P3，或从所述光开关(2)的第二输出端输出后注入所述光纤合束器(3)的泵浦端P4，光信号经过光纤合束器(3)后注入待测光纤(4)，光信号经由多模光纤(6)由光谱仪(7)接收。

4.如权利要求3所述的损耗吸收测量系统，其特征在于，所述损耗及吸收测量系统还包括：光纤模场适配器(5)，连接在所述待测光纤(4)与所述多模光纤(6)之间，当有效模场面积失配超过1.5倍时，所述光纤模场适配器(5)用于减少不同模场直径和数值孔径的光纤相熔接时的损耗。

5.如权利要求4所述的损耗吸收测量系统，其特征在于，所述光纤模场适配器(5)的输入端与所述待测光纤(4)熔接，所述光纤模场适配器(5)的输出端与所述多模光纤(6)熔接。

6.如权利要求3-5任一项所述的损耗吸收测量系统，其特征在于，所述损耗及吸收测量系统还包括：恒温箱(9)和第二控制器(10)；所述恒温箱(9)用于放置待测光纤以及提供稳定的测量环境，且温度可控制，可对光纤进行加热或冷却，测量不同温度下光纤的吸收和损耗；第二控制器(10)用于控制所述恒温箱(9)的温度。