[发明专利]一种基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法

权利要求书

1.一种基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、选取参考序列和比较序列

S2、数据无量纲化

S3、计算一阶差分

S4、求解两级最大差与最小差值

S5、计算灰色关联系数

S6、计算灰色关联度

S7、按灰色关联度值大小排序。

2.根据权利要求1所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S1所述的选取参考序列和比较序列，具体包括：选取比容为参考序列构成矩阵Y_i，选取生产工艺参数为比较序列构成矩阵X_ij，其中i＝1，2，…，n；j＝1，2，…，m，n为选取的数据量，m为选取的工艺参数个数。

3.根据权利要求2所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S2所述的数据无量纲化，具体包括：由于化成箔比容和化成工艺参数数据之间的量纲不同而且数值相差较大，不具备可比性，故必须对原始数据进行无量纲化处理，为了保留原始数据变异程度的信息，采用均值化方法对数据进行无量纲化处理，均值化的计算公式如下：

4.根据权利要求3所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S3所述的计算一阶差分，具体包括：计算每个比较序列和参考序列对应元素的一阶差分，其计算公式如下：

Δ_ij＝|Y′_i-X′_ij|。

5.根据权利要求4所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S4所述的求解两级最大差与最小差值，具体包括：对一阶差分矩阵进行求解两级最大差与最小差，即：

minΔ_j＝min(Δ_ij)；maxΔ_j＝max(Δ_ij)

min minΔ＝min(minΔ_j)；max maxΔ＝max(maxΔ_j)

其中，minminΔ为两级最小差；maxmaxΔ为两级最大差。

6.根据权利要求5所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S5所述的计算灰色关联系数，具体包括：

根据两级最大差与最小差，设置分辨系数计算灰色关联系数，其计算公式如下：

其中，p为分辨系数，其作用是提高关联系数之间的差异显著性，p∈[0，1]。

7.根据权利要求6所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S6所述的计算灰色关联度，具体包括：根据灰色关联系数计算灰色关联度，其计算公式如下：

8.根据权利要求7所述的基于灰色关联矩阵法的低压化成箔生产工艺参数敏感性分析方法，其特征在于，步骤S7所述的按灰色关联度值大小排序，具体包括：将灰色关联度值进行排序，然后分析。灰色关联度是衡量因素序列相关性程度的测度，在[0，1]区间之间变化，关联度值越大，越接近于1，说明该影响因素对指标的影响越大，即敏感度越大；反之，若关联度越接近于0，则其影响越不敏感。