[发明专利]一种AEP内存模式的测试方法及装置

权利要求书

1.一种AEP内存模式的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

检测AEP内存的信息并将检测到的信息进行显示；

根据检测的信息进行AEP内存模式的判断；

若判断AEP内存为普通内存模式，将普通内存模式转换成AD模式。

2.根据权利要求1所述的一种AEP内存模式的测试方法，其特征在于，步骤根据检测的信息进行AEP内存模式的判断包括：

查看检测的信息，若显示内存大小为设定阈值，则判断为普通内存模式。

3.根据权利要求2所述的一种AEP内存模式的测试方法，其特征在于，步骤若判断AEP内存为普通内存模式，将普通内存模式转换成AD模式包括：

将普通内存模式转换成AD模式；

设置一个Socket下的所有AEP内存组合成一个region，容量是所有AEP内存之和；

检测AEP内存的信息，若显示存储大小为socket下所有AEP内存容量之和，则判断已经转换为存储AD模式。

4.根据权利要求2所述的一种AEP内存模式的测试方法，其特征在于，步骤若判断AEP内存为普通内存模式，将普通内存模式转换成AD模式包括：

将普通内存模式转换成AD模式；

设置一个Socket下的每个AEP内存单独创建一个region；

检测AEP内存的信息，若显示存储容量是AEP内存容量，则判断已经转换为存储AD模式。

5.根据权利要求1所述的一种AEP内存模式的测试方法，其特征在于，

该方法还包括：

当AEP作为存储功能实现完后，设置内存模式；

重启系统；

查看检测的信息，若显示内存大小为设定阈值，则判断成功转换成普通内存模式。

6.一种AEP内存模式的测试装置，其特征在于，包括检测模块、判断模块、转换模块和显示模块；

检测模块，用于检测AEP内存的信息；

显示模块，用于将检测到的信息进行显示；

判断模块，用于根据检测的信息进行AEP内存模式的判断；

转换模块，用于若判断AEP内存为普通内存模式，将普通内存模式转换成AD模式。

7.根据权利要求6所述的一种AEP内存模式的测试装置，其特征在于，判断模块包括查询单元和比较单元；

查询单元，用于对检测信息进行遍历查看；

比较单元，用于对查询单元输出的信息与预先设置的内存设定阈值进行比较；若显示内存大小为设定阈值，则判断为普通内存模式。

8.根据权利要求7所述的一种AEP内存模式的测试装置，其特征在于，转换模块包括第一设置单元；

第一设置单元，用于设置一个Socket下的所有AEP内存组合成一个region，容量是所有AEP内存之和；

比较单元，还用于比较显示存储的大小和socket下所有AEP内存容量之和；若显示存储大小为socket下所有AEP内存容量之和，则判断已经转换为存储AD模式。

9.根据权利要求7所述的一种AEP内存模式的测试装置，其特征在于，转换模块还包括第二设置单元；

第二设置单元，用于设置一个Socket下的每个AEP内存单独创建一个region；

比较单元，还用于比较显示存储的大小和一个Socket下的每个AEP内存单独创建一个region的大小；若显示存储容量是AEP内存容量，则判断已经转换为存储AD模式。

10.根据权利要求6所述的一种AEP内存模式的测试装置，其特征在于，

该装置还包括模式设置模块和重启模块；

模式设置模块，用于若判断AEP内存为AD模式，设置内存模式；

重启模块，用于重启系统；

查看检测的信息，若显示内存大小为设定阈值，则判断成功转换成普通内存模式。