[发明专利]基于图像处理的电路板端口插拔寿命测试系统及方法

说明书

本发明涉及一种基于图像处理的电路板端口插拔寿命测试系统及方法，所述系统包括测试模块、图像获取模块及处理模块；所述处理模块包括图像分析单元及计数单元，所述图像分析单元用于对获取的参考图像及浮动图像进行滤波处理，按照预设的初始像素点计算参考图像及浮动图像的互信息值；所述计数单元用于计算接收到的互信息值与初始互信息值的比值，并判断比值是否低于预设比值，若比值低于预设比值时，则根据此时接收压力传感器发送的电压脉冲信号的上升沿计算待测试端口的插拔寿命次数，并根据当前的待测试端口的插拔寿命次数计算待测试端口的合格率。提高检测效率，能够精准检测待测试端口的插拔寿命。

技术领域

本发明涉及端口测试技术领域，特别涉及一种基于图像处理的电路板端口插拔寿命测试系统及方法。

背景技术

进入21世纪，电子行业不断飞速发展，电子产品的使用寿命就显得尤为重要，端口的寿命测试则是其中重要一环。目前，各种电路板的端口测试大多数还停留在人工手动插拔阶段，通过手动插拔次数来进行粗略的寿命估计，显然通过手动插拔次数无法精准测量插口的寿命，同时效率低下；还存在一些简单的电气接触式模拟插拔，如申请号:201110337801.3、专利名：模拟插拔动作的测试装置及其测试方法,能够在测试装置与电子装置的物理连接不断开的情况下方便地模拟测试装置相对于电子装置进行多次地插拔动作,减少了真实插拔动作对电子装置的损害；如申请号：201010300127.7、专利名：USB端口测试装置及测试方法，能避免频繁插拔检测探头及开关机所带来的繁琐工作,还会保护检测探头不受损,从而提高工作效率、保护产品性能；如申请号：201010300127.7、专利名：USB端口测试装置及测试方法，通过多种类型的USB设备自动测试电子设备的多个待测USB端口,提高了测试效率；这些都紧紧只是单纯的接触测试，无法测试插口的拔插寿命；而且现有的一些自动插拔装置中，大多没有形成闭环反馈。

发明内容

为此，需要提供一种基于图像处理的电路板端口插拔寿命测试系统及方法，解决现有通过手动检测端口拔插寿命的效率低下及不够精准，及电气式接触测试无法检测端口的拔插寿命，以及现有的一些自动插拔装置没有形成闭环反馈的问题。

为实现上述目的，发明人提供了一种基于图像处理的电路板端口插拔寿命测试系统，包括测试模块、图像获取模块及处理模块；

所述测试模块包括工作台、机械臂及端口台，所述工作台设置在机械臂的一端，所述工作台用于设置与待测试端口对应的端口插口，所述工作台上还设有压力传感器，所述压力传感器连接于处理模块，所述端口台用于固定带有待测试端口的电路板，所述电路板为一个或多个，所述机械臂用于带动端口台，使电路板上的待测试端口对工作台上的端口插口执行拔插动作，所述压力传感器用于检测端口台对工作台产生的压力，并将压力转换成电压脉冲信号发送给处理模块；

所述图像获取模块连接于处理模块，所述图像获取模块用于获取参考图像及浮动图像，并将获取的参考图像及浮动模块发送给处理模块，所述参考图像为执行拔插动作前的待测试端口的图像，所述浮动图像为每次拔插后的待测试端口的图像；

所述处理模块包括图像分析单元及计数单元，所述图像分析单元用于对获取的参考图像及浮动图像进行滤波处理，按照预设的初始像素点计算参考图像及浮动图像的互信息值，并将计算得到的互信息值发送至计数单元；

所述计数单元用于计算接收到的互信息值与初始互信息值的比值，并判断比值是否低于预设比值，若比值低于预设比值时，则根据此时接收压力传感器发送的电压脉冲信号的上升沿计算待测试端口的插拔寿命次数，并根据当前的待测试端口的插拔寿命次数计算待测试端口的合格率。