[发明专利]一种检测方法

说明书

本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损。所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板。所述检测方法包括如下步骤：在被测部件上形成导电图案；感测所述导电图案的电学特性的变化；及根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。

技术领域

本申请属于光学技术领域，尤其涉及一种检测方法。

背景技术

现有的三维(Three Dimensional,3D)感测模组通常采用发射能量较集中的激光器作为光源来投射感测光图案，所以一旦设置在光源的出光侧用于形成投射光图案的光学元件出现破损的话，高能量的激光会直接照射到使用者的眼睛上造成损害。

发明内容

本申请所要解决的技术问题在于提供一种检测方法，可以检测出所述光学投影模组使用的光学元件是否完好而避免光源直接伤害到使用者眼睛。

本申请实施方式提供一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损。所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板。所述检测方法包括如下步骤：在被测部件上形成导电图案；感测所述导电图案的电学特性的变化；及根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。

在某些实施方式中，所述根据感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵的步骤包括：比较所感测的导电图案的电学特性与预设的被测部件完好情况下测得的所述导电图案的标准光学特性；及若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性的差异值超出预设的误差范围，则判断被测部件存在瑕疵。

在某些实施方式中，若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性相同或差异值在预设的误差范围内，则判断被测部件为完好的。

在某些实施方式中，还包括步骤：若所述被测部件被判断为存在瑕疵，则关闭所述光源或调低所述光源的发光能量。

在某些实施方式中，所述导电图案为单独一条不相交的导电线路，形成在被测部件表面上。

在某些实施方式中，若所述导电图案所在的表面为光路经过的表面，则所述导电图案由透明导电材料制成。若所述导电图案所在的表面不是光路经过的表面，则所述导电图案可由透明导电材料或非透明导电材料制成。

在某些实施方式中，所述导电图案为周期性弯折的方波形图案，从被测部件表面的其中一端边缘弯折延展至所在表面的相对另一端边缘。

在某些实施方式中，所述导电图案为在被测部件相对的两侧面上形成的电极膜层。所述电极膜层与被测部件构成电容结构。

在某些实施方式中，所述电学特性包括导电图案所在的检测回路中的电流、电压、电阻、电容。

在某些实施方式中，所述被测部件包括光学元件和/或保护盖板。

本申请实施方式所提供的光学投影模组、感测装置及设备通过比对设置在被测部件的感测部件的电学特性的变化以方便地检测出光学投影模组所使用部件的完整度，从而防止光源从光学元件的瑕疵处透出而对使用者的眼睛造成伤害。

本申请实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请实施方式的实践了解到。

附图说明

图1是本申请第一实施方式提供的检测单元的结构示意图。

图2是图1中感测部图案的结构示意图。

图3是本申请第二实施方式提供的检测单元的结构示意图。

图4是本申请第三实施方式提供的光学投影模组的结构示意图。

图5是图4中电路基板上的接点结构示意图。