[发明专利]一种检测方法

权利要求书

1.一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损，所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板，所述检测方法包括如下步骤：

在被测部件上形成导电图案；

感测所述导电图案的电学特性的变化；及

根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵的步骤包括：

比较所感测的导电图案的电学特性与预设的被测部件完好情况下测得的所述导电图案的标准光学特性；及

若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性的差异值超出预设的误差范围，则判断被测部件存在瑕疵。

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性相同或差异值在预设的误差范围内，则判断被测部件为完好的。

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，还包括步骤：

若所述被测部件被判断为存在瑕疵，则关闭所述光源或调低所述光源的发光能量。

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述导电图案为单独一条不相交的导电线路，形成在被测部件表面上。

6.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，若所述导电图案所在的表面为光路经过的表面，则所述导电图案由透明导电材料制成，若所述导电图案所在的表面不是光路经过的表面，则所述导电图案可由透明导电材料或非透明导电材料制成。

7.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述导电图案为周期性弯折的方波形图案，从被测部件表面的其中一端边缘弯折延展至所在表面的相对另一端边缘。

8.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述导电图案为在被测部件相对的两侧面上形成的电极膜层，所述电极膜层与被测部件构成电容结构。

9.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述电学特性包括导电图案所在的检测回路中的电流、电压、电阻、电容。

10.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述被测部件包括光学元件和/或保护盖板。