[发明专利]外部触发的线性相机检测系统及其影像曝光处理方法在审
| 申请号: | 201811003757.0 | 申请日: | 2018-08-30 |
| 公开(公告)号: | CN110876020A | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
| 发明(设计)人: | 许立诚;陈建龙 | 申请(专利权)人: | 菱光科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;许志影 |
| 地址: | 中国台湾台北市内*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 外部 触发 线性 相机 检测 系统 及其 影像 曝光 处理 方法 | ||
1.一种外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,包含:
一输送装置,包含:
一马达,具有一编码器,连接于该马达的一旋转轴上;其中该编码器根据该旋转轴的位置提供一位置信号;及
一输送带,由该马达驱动,以输送一待检测物;
一控制单元,接收该位置信号,且根据该位置信号提供一相机控制信号;
一线性相机,接收该相机控制信号,根据该相机控制信号的电平发生转变时为基准,对每一条影像提供相同曝光时间的一光源控制信号;及
一光源单元,接收该光源控制信号,对该待检测物提供曝光取像的光线。
2.如权利要求1所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,当该相机控制信号由高电平转变为低电平的下缘转态时,该线性相机对每一条影像提供相同曝光时间的该光源控制信号。
3.如权利要求1所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,当该相机控制信号由低电平转变为高电平的上缘转态时,该线性相机对每一条影像提供相同曝光时间的该光源控制信号。
4.如权利要求1所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,该光源单元包含:
一光源控制器,接收该光源控制信号,根据该光源控制信号的曝光时间长度,控制该光源单元所提供曝光取像的光线的时间。
5.如权利要求1所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,该控制单元为现场可编程门阵列单元、数字信号处理器、专用集成电路、微控制器、可编程系统单晶片的任一者。
6.如权利要求5所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,该控制单元设置于一工业电脑内。
7.如权利要求1所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,当该相机控制信号的电平发生转变后,在一有效时间内电平再发生转变时,该光源控制信号则不以该有效时间前的电平发生转变时为基准。
8.如权利要求1所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,该线性相机具有一影像感测器,以撷取该待检测物的检测影像。
9.如权利要求8所述的外部触发的线性相机检测系统,其特征在于,该影像感测器为电荷耦合元件的影像感测器、互补式金属氧化半导体的影像感测器、接触式影像感测器的任一者。
10.一种外部触发的线性相机检测系统的影像曝光处理方法,其特征在于,该外部触发的线性相机检测系统包含一控制单元、一线性相机以及一光源单元,该影像曝光处理方法包含:
(a)、该控制单元提供一相机控制信号至该线性相机;
(b)、该线性相机根据该相机控制信号的电平发生转变时为基准,对每一条影像提供相同曝光时间的一光源控制信号至该光源单元;及
(c)、该光源单元接收该光源控制信号,对一待检测物提供曝光取像的光线。
11.如权利要求10所述的外部触发的线性相机检测系统的影像曝光处理方法,其特征在于,在步骤(b)中包含:
当该相机控制信号由高电平转变为低电平的下缘转态时,该线性相机对每一条影像提供相同曝光时间的该光源控制信号。
12.如权利要求10所述的外部触发的线性相机检测系统的影像曝光处理方法,其特征在于,在步骤(b)中包含:
当该相机控制信号由低电平转变为高电平的上缘转态时,该线性相机对每一条影像提供相同曝光时间的该光源控制信号。
13.如权利要求10所述的外部触发的线性相机检测系统的影像曝光处理方法,其特征在于,在步骤(b)中包含:
当该相机控制信号的电平发生转变后,在一有效时间内电平再发生转变时,该光源控制信号则不以该有效时间前的电平发生转变时为基准。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于菱光科技股份有限公司,未经菱光科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811003757.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





