[发明专利]一种双能成像方法及系统

权利要求书

1.一种双能成像方法，其特征在于，所述方法包括：

将皮秒激光加载到金属微丝上，产生微焦点、高亮度的高能X射线；

根据所述高能X射线的能谱，选择滤片和成像介质组合；所述滤片和成像介质组合包括两个滤片和两个成像介质；所述滤片与所述成像介质交叉排布；所述滤片厚度分别为0.5mm和1mm，用于截止50keV以下的低能X射线；所述成像介质为成像板记录在200keV以下的X射线；

将所述高能X射线照射到金属客体上，经过滤片和成像介质组合成像，得到金属客体的双能物理图像。

2.根据权利要求1所述的双能成像方法，其特征在于，所述高能X射线的源尺寸为10μm，能量为10keV-1MeV。

3.根据权利要求1所述的双能成像方法，其特征在于，在所述将所述高能X射线照射到金属客体上，经过滤片和成像介质组合成像，得到金属客体的双能物理图像，之后还包括：

利用金属台阶样品的成像灰度标定所述双能物理图像的面密度，获得面密度数据。

4.根据权利要求3所述的双能成像方法，其特征在于，所述利用金属台阶样品的成像灰度标定所述双能物理图像的面密度，获得面密度数据，具体包括：

获取所述金属台阶样品的各台阶成像灰度值；

获取所述金属台阶样品的各台阶的厚度；

拟合所述成像灰度值与所述厚度之间的关系，得到拟合曲线；

获取所述双能物理图像的灰度值；

根据所述双能物理图像的灰度值以及所述拟合曲线，确定金属客体的光学厚度；

根据所述金属客体的光学厚度以及所述金属客体的密度，计算所述面密度。

5.一种双能成像系统，其特征在于，所述系统包括：

加载模块，用于将皮秒激光加载到金属微丝上，产生微焦点、高亮度的高能X射线；

选择模块，用于根据所述高能X射线的能谱，选择滤片和成像介质组合；所述滤片和成像介质组合包括两个滤片和两个成像介质；所述滤片与所述成像介质交叉排布；

双能物理图像确定模块，用于将所述高能X射线照射到金属客体上，经过滤片和成像介质组合成像，得到金属客体的双能物理图像。

6.根据权利要求5所述的双能成像系统，其特征在于，所述高能X射线的源尺寸为10μm，能量为10keV-1MeV。

7.根据权利要求5所述的双能成像系统，其特征在于，两个所述滤片的厚度分别为0.5mm和1mm。

8.根据权利要求5所述的双能成像系统，其特征在于，所述系统还包括：

标定模块，用于利用金属台阶样品的成像灰度标定所述双能物理图像的面密度，获得面密度数据。

9.根据权利要求8所述的双能成像系统，其特征在于，所述标定模块具体包括：

台阶成像灰度值获取单元，用于获取所述金属台阶样品的各台阶成像灰度值；

台阶厚度获取单元，用于获取所述金属台阶样品的各台阶厚度；

拟合单元，用于拟合所述成像灰度值与所述台阶厚度之间的关系，得到拟合曲线；

灰度值获取单元，用于获取所述双能物理图像的灰度值；

光学厚度确定单元，用于根据所述双能物理图像的灰度值以及所述拟合曲线，确定金属客体的光学厚度；

面密度计算单元，用于根据所述金属客体的光学厚度以及所述金属客体的密度，计算所述面密度。