[发明专利]一种电抗器结构复杂度的分析方法及系统

权利要求书

1.一种电抗器结构复杂度的分析方法，其特征在于，所述电抗器结构复杂度的分析方法包括：

步骤S1，采集电抗器的包封绕组高度、半径、支路匝数和包封导线种类数；

步骤S2，根据所述电抗器的包封绕组高度，计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh；

按照如下公式计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh：

式中，h_d为包封绕组的最大高度；h_s为包封绕组的最小高度；

步骤S3，根据所述电抗器的半径，计算得到电抗器半径变化率Δr；

按照如下公式计算得到电抗器半径变化率Δr：

式中，r_d为电抗器最大半径；r_s为电抗器最小半径；

步骤S4，根据所述电抗器的支路匝数，计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz；

按照如下公式计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz：

式中，z_d为各支路最大匝数；z_s为各支路最小匝数；

步骤S5，根据所述电抗器的包封导线种类数，计算得到电抗器的包封导线种类变化率Δx；

按照如下公式计算得到包封导线种类变化率Δx：

式中，x_d为最大包封导线种类数；x_s为最小包封导线种类数；

步骤S6，根据所述包封绕组高度变化率Δh、所述电抗器半径变化率Δr、所述支路匝数变化率Δz和所述包封导线种类变化率Δx，计算得到电抗器的结构复杂度D_p；

按照如下公式计算得到电抗器结构复杂度D_p：

D_P＝L_P(Δh+Δr+Δz+Δx)

式中，L_p为P容量电抗器的支路匝数。

2.一种电抗器结构复杂度的分析系统，其特征在于，所述电抗器结构复杂度的分析系统包括参数采集单元、包封绕组高度变化率计算模块、电抗器半径变化率计算模块、支路匝数变化率计算模块、包封导线种类变化率计算模块和结构复杂度计算模块，其中，

所述参数采集单元，用于采集电抗器的包封绕组高度、电抗器半径、支路匝数和包封导线种类数；

所述包封绕组高度变化率计算模块，用于根据参数采集单元采集的所述包封绕组高度，计算得到包封绕组高度变化率；

按照如下公式计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh：

式中，h_d为包封绕组的最大高度；h_s为包封绕组的最小高度；

所述电抗器半径变化率计算模块，用于根据参数采集单元采集的所述电抗器半径，计算得到电抗器半径变化率；

按照如下公式计算得到电抗器半径变化率Δr：

式中，r_d为电抗器最大半径；r_s为电抗器最小半径；

所述支路匝数变化率计算模块，用于根据参数采集单元采集的所述支路匝数，计算得到支路匝数变化率；

按照如下公式计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz：

式中，z_d为各支路最大匝数；z_s为各支路最小匝数；

所述包封导线种类变化率计算模块，用于根据参数采集单元采集的包封导线种类数，计算得到包封导线种类变化率；

按照如下公式计算得到包封导线种类变化率Δx：

式中，x_d为最大包封导线种类数；x_s为最小包封导线种类数；

所述结构复杂度计算模块，用于根据所述包封绕组高度变化率、所述电抗器半径变化率、所述支路匝数变化率和所述包封导线种类变化率，计算得到结构复杂度；

按照如下公式计算得到电抗器结构复杂度D_p：

D_P＝L_P(Δh+Δr+Δz+Δx)

式中，L_p为P容量电抗器的支路匝数。

3.如权利要求2所述的电抗器结构复杂度的分析系统，其特征在于，所述参数采集单元包括包封绕组高度采集模块、电抗器半径采集模块、支路匝数采集模块和包封导线种类数采集模块，其中，

所述绕组高度采集模块，用于采集电抗器的包封绕组高度，采集的所述包封绕组高度包括包封绕组的最大高度最小高度；

所述电抗器半径采集模块，用于采集电抗器的半径，采集的所述电抗器半径包括电抗器最大半径和电抗器最小半径；

所述支路匝数采集模块，用于采集电抗器的支路匝数，采集的所述支路匝数包括电抗器各支路最大匝数和最小匝数；

所述包封导线种类数采集模块，用于采集电抗器的包封导线种类数，采集的所述包封导线种类数包括最大包封导线种类数和最小包封导线种类数。