[发明专利]一种页岩结构表征方法和装置

权利要求书

1.一种页岩结构表征方法，其特征在于，包括：

将第一待测页岩样品进行微米CT扫描，获取所述第一待测页岩样品的第一三维数据体；

将第二待测页岩样品进行纳米CT扫描，获取所述第二待测页岩样品的第二三维数据体；

根据所述第一三维数据体以及所述第二三维数据体，确定所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝空间分布；

根据所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝空间分布确定所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝连通性特征；

其中，所述第二待测页岩样品为所述第一待测页岩样品的一部分。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将第一待测页岩样品进行微米CT扫描，获取所述第一待测页岩样品的第一三维数据体，包括：

将第一待测页岩样品进行微米CT扫描，获取所述第一待测页岩样品的二维平面图；

根据所述第一待测页岩样品的二维平面图按照预设灰度值划分标准定义所述第一待测页岩样品的基质、重矿物以及裂缝位置；

根据定义后的所述第一待测页岩样品的二维平面图进行三维重构，获取所述第一待测页岩样品的第一三维数据体；

所述将第二待测页岩样品进行纳米CT扫描，获取所述第二待测页岩样品的第二三维数据体，包括：

将第二待测页岩样品进行纳米CT扫描，获取所述第二待测页岩样品的二维平面图；

根据所述第二待测页岩样品的二维平面图按照预设灰度值划分标准定义所述第二待测页岩样品的基质、有机质、重矿物以及孔隙位置；

根据定义后的所述第二待测页岩样品的二维平面图进行三维重构，获取所述第二待测页岩样品的第二三维数据体。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一三维数据体以及所述第二三维数据体，确定所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝空间分布，包括：

根据所述第二待测页岩样品的孔隙位置，确定所述第一三维数据体中孔隙位置；

根据所述第一三维数据体中孔隙位置以及所述第一三维数据体中裂缝位置，确定所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝的位置；

根据所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝的位置确定所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝空间分布。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

获取所述第一待测页岩样品的脉冲渗透率与孔隙度；

根据所述第一待测页岩样品的脉冲渗透率与孔隙度确定页岩储层物性分类；

判断所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝连通性特征是否符合所述页岩储层物性分类；若是，则将所述第一待测页岩样品的孔隙-裂缝连通性特征作为所述第一待测页岩样品的表征结果；若否，确认新的预设灰度值划分标准，并按照新的预设灰度值划分标准执行根据所述第一待测页岩样品的二维平面图按照预设灰度值划分标准定义所述第一待测页岩样品的基质、重矿物以及裂缝位置，以及根据所述第二待测页岩样品的二维平面图按照预设灰度值划分标准定义所述第二待测页岩样品的基质、有机质、重矿物以及孔隙位置的操作。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述页岩储层物性分类包括：低孔低渗、低孔高渗、高孔低渗和高孔高渗。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述低孔低渗的孔隙度≤3％，渗透率≤0.01mD；所述低孔高渗的孔隙度＜3％，渗透率＞0.01mD；所述高孔低渗的孔隙度＞3％，渗透率＜0.01mD；所述高孔高渗的孔隙度＞3％，渗透率＞0.01mD；其中，孔隙度＝3％，渗透率＜0.01mD为高孔低渗，孔隙度＞3％，渗透率＝0.01mD为高孔高渗。