[发明专利]一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法

权利要求书

1.一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于，包括步骤：

a)搭建继电器控制电路；

b)搭建触点检测电路；

c)搭建振动检测光路；

d)寿命评估及寿命影响因素推测。

2.根据权利要求1所述的一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于：所述步骤a)中使用D/A板卡和驱动电路产生继电器线圈的额定电压，可控制继电器以一定的频率和占空比进行重复动作。

3.根据权利要求1所述的一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于：所述步骤b)中通过数据采集板卡以一定采集频率对继电器触点吸合过程中的触点电压、电流以及接触电阻进行采集，并将采集到的数据送至工控机进行分析处理。

4.根据权利要求1所述的一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于：所述步骤c)包括：

c1)选择光纤光栅应变传感器：在单模光纤中写入反射波长在1.55um窗口的布拉格光栅，该窗口下光纤布拉格光栅的应变灵敏度为1pm/με；

c2)布设光纤光栅应变传感器：选择好合适的光纤光栅传感器后，将带光纤光栅传感器的光纤一端紧固在固定端另一端固定在继电器顶部，并将继电器的下端固定；

c3)搭建光纤光栅解调系统：将光纤光栅应变传感器利用传输光纤与光纤光栅解调仪相连，通过网口将光纤光栅解调仪与工控机相连，利用工控机上的检测软件对解调仪输出的波长信号进行处理，可实时显示并保存光纤光栅应变传感器检测到的继电器振动信息。

5.根据权利要求1所述的一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于：所述步骤d)中包括：

d1)通过继电器控制电路获取继电器理论动作次数；

d2)通过触点检测电路获取继电器触点有效闭合次数；

d3)通过振动检测光路获取继电器的实际动作次数；

d4)通过步骤d1)、d2)、d3)中的数据综合分析得到继电器的实际寿命和影响寿命的因素。

6.根据权利要求5所述的一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于：所述步骤d4)中包括判断影响寿命的因素的方法：若振动检测系统检测到了振动而触点检测电路未检测到触点有效闭合，则可判断该继电器是由于包括触点弹片机械损伤、触点表面接触电阻偏大的原因导致失效。

7.根据权利要求5所述的一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法，其特征在于：所述步骤d4)中包括判断影响寿命的因素的方法：若振动检测系统未检测到振动产生，继电器未动作，则可判断改继电器是由于包括线圈断裂、衔铁机械损伤的原因导致失效。