[发明专利]平板探测器的增益函数的确定方法、图像校正方法和装置

权利要求书

1.一种平板探测器的增益函数的确定方法，其特征在于，包括：

获取第一暗场图像和全尺寸区域的第一亮场图像，所述全尺寸区域包含被X射线覆盖的第一区域和未被X射线覆盖的第二区域(102)；

基于所述第一暗场图像和所述第一亮场图像确定所述第一区域的增益函数(104)；

基于第一区域中的、邻接第二区域的边缘像素点的增益，确定第二区域中的像素点的增益(106)，该步骤包括：

将所述第一区域中的、邻接第二区域的边缘像素点的增益，确定为第二区域中邻接所述边缘像素点的像素点的增益；或

将所述第一区域中的、邻接第二区域的多个边缘像素点的平均增益，确定为第二区域中邻接所述多个边缘像素点的像素点的增益；

基于第二区域中像素点的增益和所述第一区域的增益函数，确定所述全尺寸区域的增益函数(108)。

2.根据权利要求1所述的平板探测器的增益函数的确定方法，其特征在于，所述基于第一暗场图像和第一亮场图像确定所述第一区域的增益函数包括：

将第一亮场图像中第一区域的像素点的灰度值与第一暗场图像中对应像素点的灰度值执行相减运算，以获取第一参照图；

确定所述第一参照图的灰度平均值；

将所述灰度平均值与所述第一参照图中每个像素点的灰度值的比，确定为所述第一区域的增益函数。

3.一种平板探测器的图像校正方法，其特征在于，该方法包括：

获取第一暗场图像和全尺寸区域的第一亮场图像，所述全尺寸区域包含被X射线覆盖的第一区域和未被X射线覆盖的第二区域(202)；

基于所述第一暗场图像和所述第一亮场图像确定所述第一区域的增益函数(204)；

基于第一区域中的、邻接第二区域的边缘像素点的增益，确定第二区域中的像素点的增益(206)，该步骤包括：

将所述第一区域中的、邻接第二区域的边缘像素点的增益，确定为第二区域中邻接所述边缘像素点的像素点的增益；或

将所述第一区域中的、邻接第二区域的多个边缘像素点的平均增益，确定为第二区域中邻接所述多个边缘像素点的像素点的增益；

基于第二区域中像素点的增益和所述第一区域的增益函数，确定所述全尺寸区域的增益函数(208)；获取第二暗场图像和全尺寸区域的第二亮场图像，基于所述第二暗场图像和所述全尺寸区域的增益函数，对所述全尺寸区域的第二亮场图像进行校正(210)。

4.根据权利要求3所述的平板探测器的图像校正方法，其特征在于，所述基于第一暗场图像和第一亮场图像确定所述第一区域的增益函数包括：

将所述第一亮场图像中第一区域的像素点的灰度值与所述第一暗场图像中对应像素点的灰度值执行相减运算，以获取第一参照图；

确定所述第一参照图的灰度平均值；

将所述灰度平均值与所述第一参照图中每个像素点的灰度值的比，确定为所述第一区域的增益函数。

5.根据权利要求3所述的平板探测器的图像校正方法，其特征在于，所述基于所述第二暗场图像和所述全尺寸区域的增益函数，对所述全尺寸区域的第二亮场图像进行校正包括：

将所述第二亮场图像中的像素点的灰度值与所述第二暗场图像中对应像素点的灰度值执行相减运算，以获取第二参照图；

将所述第二参照图与所述全尺寸区域的增益函数相乘，以获取校正后图像。