[发明专利]一种光束质量β因子测量系统的校准方法有效
| 申请号: | 201810767895.X | 申请日: | 2018-07-13 |
| 公开(公告)号: | CN108871559B | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
| 发明(设计)人: | 王艳茹;徐德;丁宇洁;冉铮惠 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院计量测试中心 |
| 主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02 |
| 代理公司: | 北京市盈科律师事务所 11344 | 代理人: | 姜智慧 |
| 地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光束 质量 因子 测量 系统 校准 方法 | ||
1.一种光束质量β因子测量系统的校准方法,其特征在于,所述校准方法使用的仪器包括平行光管、标准像差板和光束质量β因子测量系统;
具体校准方法如下:
(1)根据光束质量β因子测量系统不同的β因子测量范围和接收口径,选择合适的标准像差板;
(2)将标准像差板装入工装夹具后放置在平行光管的传输光路上;
(3)开启平行光管光源,使其发出的标准平行光束经过标准像差板后进入光束质量β因子测量系统;
(4)加载此种标准像差板对应的光束质量β因子标准值βs的计算过程如下:
根据标量衍射理论,光束在光束质量β因子测量系统的探测面上的光强分布为:
式中:λ为激光波长,f为焦距,(x,y)为光束质量β因子测量系统探测面上的坐标,(x0,y0)为标准像差板上的坐标;E(x0,y0)为平行光管出射光束的光强分布,其分布可以通过功率计多点扫描平行光管出射光束的强度得到;为标准像差板的像差分布,其像差分布数据由激光干涉仪的面形分布测量结果给出,即各阶泽尼克多项式的系数;
(5)根据干涉仪给出的测量结果中的泽尼克多项式系数,拟合得到标准像差板的面形
(6)加载“拟合得到标准像差板的面形”显示的像差板数据代入步骤(4)所述公式中后,I(x,y)便可通过数值计算的方法获得加载此种标准像差板对应的光束质量β因子测量系统探测面上的光强分布;
(7)从光强分布可以计算得到包含入射光束总能量83.7%的光斑半径,记为r1,理想光束的包含相同能量的远场光斑半径,记为r0,根据β因子的定义,得到标准像差板对应的光束质量β因子标准值βs=r1/r0;
(8)加载标准像差板后,得到该标准像差板对应的光束质量β因子测量值βm;
(9)将βm和βs的数值带入公式C=βs/βm,得到光束质量β因子测量系统的校准系数。
2.根据权利要求1所述的一种光束质量β因子测量系统的校准方法,其特征在于:所述平行光管是产生标准平行光束的装置,其波长与光束质量测量系统的响应波长相匹配。
3.根据权利要求1所述的一种光束质量β因子测量系统的校准方法,其特征在于:所述标准像差板是单一像差类型的像差板,或者是多个单一像差类型的像差板的组合,或者是复合像差板即一个像差板上具有两种及以上不同类型的像差。
4.根据权利要求1所述的一种光束质量β因子测量系统的校准方法,其特征在于:所述光束质量β因子测量系统的接收口径需要与平行光管的光束口径匹配,如果口径不匹配时,需要在光束质量β因子测量系统前加入孔径光阑。
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