[发明专利]LED模组功能测试仪及测试方法

说明书

本发明为一种LED模组功能测试仪及测试方法。所述LED模组功能测试仪包括包括固定框架、分别设置在固定框架上的数据采集处理单元、LED分析仪、电参数检测模块、稳压电源、显示器；所述电参数检测模块、稳压电源分别与所述数据采集处理单元、LED分析仪相连；所述固定框架的上部为测试区、所述固定框架的下部为设备放置区，还包括下压机构、推进机构、控制按钮模组、扫码装置；所述扫码装置读取被测物信息，并将被测物信息发送至所述数据采集处理单元；所述扫码装置固定在所述固定框架的上部；所述推进机构内设有第一LED分析仪、下压机构内设有第二LED分析仪；所述推进机构的顶部设有被测物放置区。

技术领域

本发明涉及LED模组测试设备，特别是公开一种LED模组功能测试仪及测试方法。

背景技术

现有LED模组测试设备是一种以手动夹手为压紧机构的单机测试仪器，它通过单片机作为数据处理单元进行数据处理，并配有各种检测模块，如电压输出和检测模块、电流输出和检测模块、LED分析仪等。其主要缺陷有以下四点：

1）在LED模组测试设备上的被测试物体，主要为含有电子元器件的线路板，作业人员在放入和拿取被测试物体时，容易与压紧机构发生剐蹭，从而损伤电子元器件。2）由于现有的技术问题，无法与条码识别装置（如手持扫码枪等），连接来识别被测试物体上面的二维码信息，也无法实现测试数据的本地保存，从而也就无法查询测试记录以及与MES系统（生产执行制造系统）的数据交互。3）当被测试物体有不良时，由于现有产品为手动压紧机构，不能锁定。在流水线上生产时不良的被测试物体与良好的测试物体就有混淆的风险。4）现有产品的电压输出和检测、电流输出和检测模块精度较低。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中存在的缺陷，提供一种避免刮伤被测试物体的电子元器、降低被测物体之间的混淆风险的LED模组功能测试仪及测试方法。

本发明是这样实现的：一种LED模组功能测试仪，包括固定框架、分别设置在固定框架上的数据采集处理单元、LED分析仪、电参数检测模块、稳压电源、显示器；所述电参数检测模块、稳压电源分别与所述数据采集处理单元、LED分析仪相连；所述固定框架的上部为测试区、所述固定框架的下部为设备放置区，其特征在于：还包括下压机构、推进机构、控制按钮模组、扫码装置；所述扫码装置读取被测物信息，并将被测物信息发送至所述数据采集处理单元；所述扫码装置固定在所述固定框架的上部；所述推进机构内设有第一LED分析仪、下压机构内设有第二LED分析仪；所述推进机构的顶部设有被测物放置区；

所述测试区分为上料区、工作区，所述推进机构在上料区与工作区之间通过第一动力装置水平移动，所述下压机构在工作区内，当所述推进机构位于所述工作区时，所述下压机构位于所述推进机构的正上方；所述下压机构通过第二动力装置上、下垂直移动；所述第一动力装置、第二动力装置分别通过所述控制按钮模组控制进行启动动作；所述控制按钮模组固定在所述上料区的前侧；当所述下压机构向下移动到位时、与所述推进机构共同完成对被测物的夹紧，夹紧后所述数据采集处理单元控制所述第一LED分析仪、第二LED分析仪、电参数检测模块、稳压电源分别对所述被测物进行测试，测试数据发送至所述数据采集处理单元；数据发送后所述数据采集处理单元控制所述所述第一动力装置、第二动力装置进行复位动作。

还包括2个固定在所述上料区两侧的安全光栅，所述安全光栅分别与所述第一动力装置、第二动力装置相连。

所述推进机构包括支撑台、第一分析仪固定架、被测物固定板；所述第一LED分析仪固定在所述第一分析仪固定架内，所述被测物固定板的顶部设有所述被测物放置区；所述第一分析仪固定架固定在所述支撑台上；