[发明专利]一种对碲镉汞pn结材料进行测试的方法

权利要求书

1.一种对碲镉汞pn结材料进行测试的方法，其特征在于，包括：

对碲镉汞pn结材料进行预处理；

将预处理后的碲镉汞pn结材料进行变化磁场强度的霍尔测试；

根据测试结果确定碲镉汞pn结材料的霍尔系数R_H、载流子浓度和迁移率；

所述将预处理后的碲镉汞pn结材料进行变化磁场强度的霍尔测试，具体包括：将预处理后的碲镉汞pn结材料进行渐变磁场强度的霍尔测试；

所述霍尔测试的磁场强度为由1T渐变为0T，或者，所述霍尔测试的磁场强度为由0T渐变为1T；

所述磁场强度的步长为0.01-0.1T，电流为0.1mA；

所述根据测试结果确定碲镉汞pn结材料的霍尔系数R_H、载流子浓度和迁移率，具体包括：

根据测试结果获得碲镉汞pn结材料最终的载流子浓度和迁移率，并根据测试结果计算霍尔系数R_H(0.1T)/R_H(1T)、R_H(1T)/R_H(0.5T)和R_H(1T)/R_H(0.7T)之间的比率，并结合R_H(0.1T)、R_H(0.5T)、R_H(0.7T)和R_H(1T)的值确定碲镉汞pn结材料的导电类型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述碲镉汞pn结材料尺寸为5×5mm—15×15mm。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对碲镉汞pn结材料进行预处理，具体包括：

对碲镉汞pn结材料进行清洗处理和吹干处理。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据测试结果确定碲镉汞pn结材料的霍尔系数R_H、载流子浓度和迁移率，具体包括：

将测试结果带入定量迁移率谱分析QMSA软件，通过QMSA软件确定碲镉汞pn结材料的霍尔系数RH、载流子浓度和迁移率。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据测试结果计算霍尔系数R_H(0.1T)/R_H(1T)、R_H(1T)/R_H(0.5T)和R_H(1T)/R_H(0.7T)之间的比率，并结合R_H(0.1T)、R_H(0.5T)、R_H(0.7T)和R_H(1T)的值确定碲镉汞pn结材料的导电类型，具体包括：

当R_H(0.1T)0，R_H(0.5T)0，R_H(0.7T)0，R_H(1T)0，R_H(1T)/R_H(0.5T)1.2，R_H(1T)/R_H(0.7T)1.2，则碲镉汞pn结材料的导电类型为p型。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据测试结果计算霍尔系数R_H(0.1T)/R_H(1T)、R_H(1T)/R_H(0.5T)和R_H(1T)/R_H(0.7T)之间的比率，并结合R_H(0.1T)、R_H(0.5T)、R_H(0.7T)和R_H(1T)的值确定碲镉汞pn结材料的导电类型，具体包括：

当R_H(0.1T)/R_H(1T)1.2，R_H(0.1T)0，R_H(0.5T)0，R_H(1T)0，R_H(1T)/R_H(0.5T)1.2，则碲镉汞pn结材料的导电类型为n型。