[发明专利]基于光场高阶关联的非局域调制X射线衍射成像装置和方法在审
| 申请号: | 201810603834.X | 申请日: | 2018-06-12 |
| 公开(公告)号: | CN108827988A | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
| 发明(设计)人: | 谈志杰;喻虹;陆荣华;韩申生 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
| 代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
| 地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 非局域 调制器 点探测器 高阶 光场 调制 待测物体 光强信息 光轴方向 分束片 关联 透镜 图像 探测器距离 关联运算 反射光 透射光 分辨率 计算机 光强 记录 相等 采集 恢复 | ||
一种基于光场高阶关联的非局域调制X射线衍射成像装置和方法,装置包括X射线源、分束片、待测物体、非局域调制器、X射线面探测器、X射线点探测器和计算机,非局域调制器包括mask调制器和透镜调制器。X射线源发出的光经过分束片,透射光沿光轴方向经过非局域调制器,光强信息被X射线面探测器记录,反射光沿光轴方向通过待测物体,光强信息被X射线点探测器记录。X射线源到两个探测器距离相等。计算机与X射线面探测器和点探测器相连,具有对采集到的光强序列进行关联运算的程序。本发明基于光场高阶关联的非局域调制,能够提高X射线衍射成像恢复图像的图像质量和分辨率。
技术领域
本发明涉及X射线衍射成像,特别是一种基于光场高阶关联的非局域调制 X射线衍射成像装置和方法。
背景技术
现有的X射线傅里叶变换衍射成像方法,只有X射线相干衍射成像(XCDI) 一种,它是采用相干X射线,照射在待测物体上,利用物光场的夫琅禾费衍射 强度分布,得到该物体透过率函数的傅里叶变换强度分布,再采用相位恢复算 法恢复待测物体的振幅和相位信息。这种X射线相干衍射成像技术主要有以下 几个局限:
1)成像光束必须是相干X射线,待测样品尺寸受X射线横向相干尺度的 限制。对第三代同步辐射X射线成像装置而言,最大待测样品尺寸仅为10微米 量级;对于采用X光管的常规小型X射线成像装置,由于其空间相干性较差, 完全无法进行X射线相干衍射成像。
2)成像光束经过物体后必须传输较长的距离(满足夫琅禾费条件),才能 探测到物体透过率函数的傅里叶变换强度信息。对第四代同步辐射X射线成像 装置而言,虽然能满足光束大面积相干的条件,但待测样品尺寸受夫琅禾费衍 射条件限制,如:采用波长1nm的相干X射线对尺寸1mm的样品进行衍射成 像,所需的探测距离达到1公里。
3)由于X射线具有极高的穿透性,进行X射线相干衍射成像时在探测器 中央对应位置存在高强度透射光,实际成像装置中往往采用beam stop将其吸收, 因此,所得到的衍射强度分布中存在图像的直流和低频成分缺失。
4)探测得到的物体透过率函数的傅里叶变换强度分布,需要进行相位恢复 算法恢复待测物体的振幅和相位。目前广泛运用的算法为HIO算法,该算法不 能保证收敛到全局最优解,且对于初值较为敏感。
针对X射线相干衍射成像中的相位恢复问题,斯坦福大学的Candas等人提 出了一种基于随机编码调制的相位恢复算法(E.J.Candès,et.,al,“Phase retrieval fromcoded diffraction patterns,”Appl.Comput.Harmon.Anal.,vol.39,no.2,pp. 277–299,2015)。该算法能够显著改善相位恢复的恢复图像质量。然而该算法需 要在物体面对光场进行调制,需要非局域调制器与待测物体完全重合,在实际 运用中较难实现。
中国科学院上海光学精密机械研究所的喻虹等人设计了非相干X射线衍射 成像装置(非相干X射线衍射成像装置,201110148476.6),并于2016年完成了 X射线傅里叶变换关联成像(XFGI)的原理演示实验(H.Yu et al., “Fourier-Transform Ghost Imagingwith Hard X Rays,”Phys.Rev.Lett.,vol.117,no. 11,2016)。该成像方法不需要相干光源就可以得到物体透过率函数的傅里叶变 换强度分布,之后通过相位恢复算法恢复出物体,得到的结果同样受限于相位 恢复算法。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于克服上述在先技术的缺陷,提供一种基于非 局域调制的非相干光X射线衍射成像装置和方法,通过在光束自由传播的参考 臂上添加非局域调制器,从而利用新的相位恢复算法得到更好的相位恢复结果。
本发明的技术解决方案如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810603834.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





