[发明专利]一种NVM芯片可靠性测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种NVM芯片可靠性测试系统，所述测试系统包括：

用于控制和产生测试激励信号的测试主机，所述测试主机包括相互通信的上位机和测试机，其中上位机发送测试指令及测试向量给测试机，并且测试机分析所接收的测试指令和测试向量以生成测试激励信号；以及

与测试主机通信的测试板，包括驱动板和芯片基座板，其中驱动板对测试主机生成的测试激励信号进行处理，并把经处理的测试激励信号传输给芯片基座板；

所述驱动板采用分级、分类及分组驱动，并分类输出驱动后的信号；

所述芯片基座板包括输入接口、片选模块和芯片基座组，所述芯片基座板的片选模块构造成分类处理片选信号，实现全选、不选、单选或者分组选芯片基座板上的芯片。

2.如权利要求1所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述处理包括对测试激励信号进行组合和/或分组以实现下列测试模式中的一个或多个：同步擦、写；异步擦、写；同步读激励；以及异步读。

3.如权利要求1所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述测试主机与所述测试板采用线连接；和/或，所述测试板的驱动板和芯片基座板设计在同一PCB上、采用线连接、插入连接或者线连接和插入连接的混合连接。

4.如权利要求1或权利要求2所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述驱动板包括输入接口、驱动模块和输出接口，其中驱动板的驱动模块包括输出驱动和I/O驱动；其中测试激励信号通过输入接口输入所述驱动板，经驱动模块进行激励之后，通过输出接口从所述驱动板输出；输出驱动用于对输出类信号进行加强，I/O驱动用于对I/O类信号进行加强；所述驱动模块还包括片选信号驱动，片选信号驱动对片选类信号进行加强。

5.如权利要求4所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述驱动板采用分类输出，且所述驱动板的输出接口包括电源输出接口、I/O输出接口和输出-片选输出接口；所述输出类信号和片选类信号共用所述输出-片选输出接口进行信号输出。

6.如权利要求1或权利要求2所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述驱动板包括n个结构相同的驱动组合，每个驱动组合都包括输出驱动‘OUT’和I/O驱动‘I/O’，其中n为大于或等于1的整数；所述驱动板采用分级、分类及分组驱动，其中原始输入信号是第一级，驱动后输出信号是第二级；原始信号中分为输出类信号、I/O类信号、片选类信号；且输出类信号与I/O类信号组成一组，片选类信号为一组。

7.如权利要求6所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述驱动板上包括至少一组由输出类信号与I/O类信号组成的信号组。

8.如权利要求1所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述芯片基座板包括输入接口、片选模块和芯片基座组，其中经过驱动板处理的信号从输入接口输入芯片基座板，其中，输出类信号、I/O类信号输送到芯片基座，片选类信号经所述片选模块处理后输送到芯片基座。

9.如权利要求8所述的NVM芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述芯片基座板的输入接口与所述驱动板的输出接口对应，其中所述驱动板的输出接口包括电源输出接口、I/O输出接口和输出-片选输出接口；所述输出类信号和片选类信号共用所述输出-片选输出接口进行信号输出，且所述芯片基座板的输入接口包括电源输入接口、I/O输入接口和输出-片选输入接口，其中电源输入接口用于将电源信号输入到芯片基座板；I/O输入接口用于将I/O信号输入到芯片基座板；输出-片选输入接口用于将片选信号输入到片选模块，经过片选模块处理后再输送到芯片基座板。