[发明专利]一种TFT基板的制备方法、TFT基板及显示装置有效
| 申请号: | 201810509994.8 | 申请日: | 2018-05-24 |
| 公开(公告)号: | CN108666325B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
| 发明(设计)人: | 宫奎;徐德智;田维;古宏刚;张玉虎 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
| 代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 tft 制备 方法 显示装置 | ||
1.一种TFT基板的制备方法,其特征在于,包括:
在基底上形成金属导电膜层;
在所述金属导电膜层上形成疏水绝缘膜层;
在所述疏水绝缘膜层上涂覆光刻胶涂层,并采用曝光工艺对所述光刻胶涂层进行图案化处理以形成图案化的光刻胶层;
对所述疏水绝缘膜层进行刻蚀以形成图案化的疏水绝缘层;
采用碱性刻蚀液对所述金属导电膜层进行刻蚀以形成图案化的金属电极层;
当所述金属电极层为源漏电极层时,具体包括:
在所述基底上形成源漏电极膜层;
在所述源漏电极膜层上形成所述疏水绝缘膜层;
在所述疏水绝缘膜层上涂覆光刻胶涂层,并采用半曝光工艺对所述光刻胶涂层进行曝光显影处理以形成图案化的光刻胶层,其中,对所述光刻胶涂层进行曝光显影处理时,对所述光刻胶涂层中与需要形成所述源漏电极层相对的部位进行全部保留,对所述光刻胶涂层中与所述源漏电极层和像素电极的搭接区域相对的部位进行部分去除,并且对所述光刻胶涂层中的其余部位进行全部去除;
对所述疏水绝缘膜层进行刻蚀以去除所述疏水绝缘膜层中需要与所述源漏电极层相对之外的其他部分并形成疏水绝缘层;
采用碱性刻蚀液对所述源漏电极膜层进行刻蚀以形成图案化的所述源漏电极层;
对所述光刻胶层进行灰化处理以使所述光刻胶层中与所述源漏电极层和像素电极的搭接区域相对的部位全部去除、且所述光刻胶层中其余部位部分去除;
对所述疏水绝缘层进行刻蚀以形成用于所述源漏电极层与像素电极连接的第一过孔。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述金属导电膜层包括依次层叠设置在所述基底上的第一扩散防止膜层、铜膜层、第二扩散防止膜层,且所述第二扩散防止膜层位于所述铜膜层朝向所述疏水绝缘膜层的一侧。
3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述第一扩散防止膜层为金属膜层、金属氮化物膜层或金属合金膜层;
和/或,所述第二扩散防止膜层为金属膜层、金属氮化物膜层或金属合金膜层。
4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述疏水绝缘膜层为氮化硅膜层。
5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在所述源漏电极膜层形成之前,还包括:
在所述基底上形成图案化的栅极层;
在所述栅极层上形成栅绝缘层;
在所述栅绝缘层上形成图案化的有源层。
6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在所述源漏电极层形成之后,还包括:
在所述源漏电极层上形成图案化的有源层;
在有源层上形成栅绝缘层;
在所述栅绝缘层上形成图案化的栅极层。
7.一种采用如权利要求1-6任一项所述的制备方法制备的TFT基板,其特征在于,包括:
形成于基底上的金属电极层;
形成于所述金属电极层上的疏水绝缘层;
当所述金属电极层为源漏电极层时,包括:
形成于所述基底上的源漏电极层;
形成于所述源漏电极层上的疏水绝缘层,其中,所述疏水绝缘层设有用于所述源漏电极层与像素电极连接的通孔。
8.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求7所述的TFT基板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





