[发明专利]梯度线圈的匀场方法和装置

权利要求书

1.一种梯度线圈的匀场方法，其特征在于，包括：

向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量；

根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

通过所述匀场架测量匀场指标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量包括：

获取位于所述梯度线圈内侧多个位置的磁场信号；

确定所述多个位置中两个对称位置的磁场信号的第一关联关系，其中，所述两个对称位置关于梯度线圈的轴线或通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线对称；

查询预存的在所述匀场架偏移的情况下，所述两个对称位置的磁场信号的关联关系集合中与所述第一关联关系匹配的第二关联关系；

确定所述第二关联关系对应的匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏移量包括所述匀场架在第一方向上的偏移量和在第二方向上的偏移量，以及在第三方向上的偏移量；

其中，所述第三方向为所述梯度线圈的轴线方向，所述第一方向垂直于所述第三方向和所述第二方向，且所述第二方向垂直于所述第三方向。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数包括：

针对每个匀场片，根据所述匀场架在所述第一方向上的偏移量、在所述第二方向上的偏移量、在所述第三方向上的偏移量、所述匀场片的真空介电常数、所述匀场片的磁矩以及所述匀场片到目标点的向量，分别计算匀场片对目标点所需产生的磁场。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

在向梯度线圈输入直流信号之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

在将所述匀场条插入所述梯度线圈之前，降低所述梯度线圈的磁场强度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：

在通过所述匀场架测量匀场指标之前，提高所述梯度线圈的磁场强度。

8.一种梯度线圈的匀场装置，其特征在于，包括：

直流输入模块，用于向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；

偏移确定模块，用于根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在梯度线圈的轴线方向和通过梯度线圈的重心且垂直梯度线圈的轴线的直线方向上的偏移量；

参数计算模块，用于根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；

操作模块，用于根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；

测量模块，用于通过所述匀场架测量匀场指标。