[发明专利]一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质有效
| 申请号: | 201810438235.7 | 申请日: | 2018-05-09 |
| 公开(公告)号: | CN108469218B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
| 发明(设计)人: | 徐德俊;曾涵湄;高洪兵;袁文波;王钦若 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
| 主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
| 代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 罗满 |
| 地址: | 510060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电容 测距 变换参数 测量极板 第一开关 金属极板 可读存储介质 测距电路 测距结果 电容特性 极板距离 状态变换 准确结果 端电压 申请 计时 监测 应用 | ||
本申请公开了一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质,包括:变换测距电路中第一开关的状态并开始计时;监测第一开关的状态变换后第一电容第一端的端电压,并获取第一电容的变换参数;根据变换参数,计算第一电容的第一电容值;根据第一电容值,获取对应的测距结果;本申请根据电容特性,利用设计好的测距电路在变换第一开关的过程中获取其变换参数,从而计算得到第一电容值,也即得到测量极板与被测金属极板之间的电容值,然后利用电容的极板距离与电容值之间的联系,通过获取测量极板与被测金属极板之间的电容值,从而得到测量极板与被测金属极板之间的距离。本方法在高温下依然可以获取准确结果,因此应用的测距环境和温度范围更为广泛。
技术领域
本发明涉及测距领域,特别涉及一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质。
背景技术
随着工业产业逐渐迈向现代化和自动化,对于物件距离的精度要求越来越高。目前通常使用的测距手段有红外测距和激光测距,这两种方法使用方便,精度高量程大,但是当应用在某些金属切割场合时,切割的过程会产生高温高热,这种恶劣环境下无法采用红外或激光等测距方法来保持切割头和被切割金属之间的恒定距离,从而使得测距结果不准确,切割效果差。而且红外测距装置和激光测距装置体积较大,成本昂贵,在这种恶劣环境可能损坏,造成额外损失。
因此,如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质,以便能够在环境较为恶劣时能够获取准确的测距结果。其具体方案如下:
一种电容测距方法,包括:
变换测距电路中第一开关的状态并开始计时;
监测所述第一开关的状态变换后第一电容第一端的端电压,并获取所述第一电容的变换参数;
根据所述变换参数,计算所述第一电容的第一电容值;
根据所述第一电容值,获取所述第一电容值对应的测距结果;
其中,所述测距电路包括第一单元,所述第一单元的第一端接直流电源,所述第一单元的第二端接地;所述第一单元包括所述第一电容、第一电阻、所述第一开关和第一辅助电阻,所述第一开关与所述第一辅助电阻串联后与所述第一电容并联,所述第一电容的第一端与所述第一电阻的第一端连接,所述第一电容的第二端作为所述第一单元的第一端或第二端,所述第一电阻的第二端作为所述第一单元的第二端或第一端;所述第一电容包括测量极板和被测金属极板。
优选的,所述监测所述第一开关的状态变换后第一电容第一端的端电压,并获取所述第一电容的变换参数的过程,包括:
监测所述第一开关的状态变换后所述第一电容第一端的端电压;
获取所述状态变换后所述端电压的一个端电压值与对应的变化时间。
优选的,所述测距电路还包括第二单元,所述第二单元包括第二电容、第二电阻、第二开关和第二辅助电阻,其中:
所述第二开关和所述第二辅助电阻串联后与所述第二电容并联,所述第二电容的第一端与所述第二电阻的第一端连接,所述第二电容的第二端与所述第一电容的第二端连接,所述第二电阻的第二端与所述第一电阻的第二端连接;
所述第二电阻和所述第二辅助电阻的阻值比,与所述第一电阻和所述第一辅助电阻的阻值比相等;
相应的,所述变换测距电路中第一开关的状态并开始计时的同时,还包括:
对所述第二开关进行与所述第一开关相同的状态变换;
相应的,所述监测所述第一开关的状态变换后第一电容第一端的端电压,并获取所述第一电容的变换参数的同时,还包括:
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