[发明专利]基站天线工程参数获取方法和系统、存储介质及设备有效
| 申请号: | 201810427307.8 | 申请日: | 2018-05-07 |
| 公开(公告)号: | CN108844527B | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
| 发明(设计)人: | 李炯城;江佳良;李竞;金龙;黄伟如;陈运动 | 申请(专利权)人: | 广东省电信规划设计院有限公司;中国通信服务股份有限公司;广东省通信产业服务有限公司 |
| 主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;H04W24/02 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黄晓庆 |
| 地址: | 510630 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基站 天线 工程 参数 获取 方法 系统 存储 介质 设备 | ||
1.一种基站天线工程参数获取方法,其特征在于,所述方法包括:
获取当前基站的天线柱的第一图像;具体包括:根据接收的目标选定指令确定目标检测区域并确定所述目标检测区域中的天线柱;对所述天线柱进行跟踪,获取所述天线柱的多组图像,将所述多组图像设置为所述第一图像,所述多组图像包括从不同角度获取的所述天线柱的图像;其中,对所述天线柱进行跟踪,具体包括:
获取所述目标检测区域的第二图像,对所述第二图像进行灰度化处理;
根据所述第二图像确定所述目标检测区域的第一中心坐标;
通过预设的权值划分机制对所述目标检测区域中不同位置的权值进行设置;
根据所述目标检测区域中不同位置对应的权值对所述预设的概率密度函数进行修正,获取目标概率密度函数;
获取所述目标检测区域第一边框位置对应的特征值,根据所述目标概率密度函数和所述第一中心坐标计算所述边框位置对应的特征值在所述特征值集合内的第三概率密度;
获取所述目标检测区域第一中心坐标对应的特征值,根据所述目标概率密度函数和所述第一中心坐标计算所述第一中心坐标对应的特征值在所述特征值集合内的第四概率密度,获取所述第三概率密度和所述第四概率密度的第一相似度;
在预设时间间隔之后,获取所述目标检测区域的第三图像,根据所述第三图像确定所述目标检测区域中的第三中心坐标,根据所述目标概率密度函数和所述第三中心坐标计算所述边框位置对应的特征值在所述特征值集合内的第五概率密度,根据所述目标概率密度函数和所述第三中心坐标计算所述第三中心坐标对应的特征值在所述特征值集合内的第六概率密度,获取所述第五概率密度和所述第六概率密度的第二相似度;
根据所述第一相似度和所述第二相似度获取第二移动向量,根据所述第二移动向量对所述天线柱进行跟踪,得到所述第一图像;
根据所述第一图像确定所述天线柱的天线板轮廓,根据所述天线板轮廓通过预设聚类算法确定所述天线柱的位置和类型;
根据所述天线板轮廓、所述天线柱的位置和类型获取所述天线柱的工程参数。
2.根据权利要求1所述的基站天线工程参数获取方法,其特征在于,所述根据接收的目标选定指令确定目标检测区域并确定所述目标检测区域中的天线柱,包括:
通过SIFT算法进行特征检测选定,自动确定所述目标检测区域及所述目标检测区域中的天线柱。
3.根据权利要求2所述的基站天线工程参数获取方法,其特征在于,所述根据所述第一图像确定所述天线柱的天线板轮廓,根据所述天线板轮廓确定所述天线柱的位置和类型的步骤包括:
根据所述第一图像确定所述天线柱的多组天线板轮廓;
获取各组所述天线板轮廓的倾斜角,确定所述天线柱的多组天线板轮廓中倾斜角最大的第一目标天线板轮廓;
对所述天线柱的多组天线板轮廓进行聚类处理,根据聚类处理之后的天线板轮廓确定所述天线柱的位置和类型;
所述根据所述天线板轮廓、所述天线柱的位置和类型获取所述天线柱的工程参数的步骤包括:根据所述第一目标天线板轮廓、所述天线柱的位置和类型获取所述天线柱的工程参数。
4.根据权利要求3所述的基站天线工程参数获取方法,其特征在于,所述对所述天线柱的多组天线板轮廓进行聚类处理的步骤包括:
获取各组所述天线板轮廓的轮廓长宽比,在多组所述天线柱的天线板轮廓中确定轮廓长宽比满足预设长宽比条件的各个第二目标天线板轮廓;
获取各个所述第二目标天线板轮廓对应天线的方向角,根据预设聚类算法和所述天线的方向角对所述第二目标天线板轮廓进行聚类处理。
5.根据权利要求3所述的基站天线工程参数获取方法,其特征在于,在所述根据所述第一目标天线板轮廓、所述天线柱的位置和类型获取所述天线柱的工程参数的步骤之后,还包括:
根据所述第一目标天线板轮廓确定所述天线柱的目标图像;
对所述目标图像和所述天线工程参数进行匹配并将匹配结果发送至预设终端。
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