[发明专利]电容式隔膜真空计及干刻蚀设备腔体压力测试系统在审

专利信息
申请号: 201810368641.0 申请日: 2018-04-23
公开(公告)号: CN108593198A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 丁俊 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01L21/00 分类号: G01L21/00
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 干刻蚀设备 隔膜真空计 电容式 腔体 第一腔室 第二腔室 压力隔膜 测量电极 测试系统 腔体压力 副产物 过滤网 制程 污染物附着 参考电极 第二腔体 间隔设置 使用寿命 永久变形 真空压力 均一性 刻蚀率 吸附 破损 污染物 测试 保证
【权利要求书】:

1.一种电容式隔膜真空计,其特征在于,包括:相邻的第一腔室(11)和第二腔室(12)、设于所述第一腔室(11)和第二腔室(12)之间的压力隔膜(13)、设于所述第一腔室(11)中的测量电极(14)、设于所述第一腔室(11)中并与测量电极(14)间隔设置的参考电极(15)以及设于所述第二腔室(12)中的过滤网(16);

所述第二腔体(12)用于通入干刻蚀设备腔体的气体;

所述过滤网(16)用于吸附干刻蚀设备腔体的制程副产物以及腔体污染物。

2.如权利要求1所述的电容式隔膜真空计,其特征在于,还包括设于所述第二腔室(12)中并位于压力隔膜(13)与过滤网(16)之间的加热电路(17)。

3.如权利要求1所述的电容式隔膜真空计,其特征在于,所述过滤网(16)的材料为聚四氟乙烯。

4.如权利要求1所述的电容式隔膜真空计,其特征在于,所述压力隔膜(13)的材料为铬镍铁合金。

5.如权利要求1所述的电容式隔膜真空计,其特征在于,所述压力隔膜(13)的厚度为10um~90um。

6.一种干刻蚀设备腔体压力测试系统,其特征在于,包括:腔体(100)、与所述腔体(100)连接的气体管道(200)、设于所述气体管道(200)上的压力调节器(300)、以及与所述气体管道(200)连接并与压力调节器(300)电性连接的如权利要求1所述的电容式隔膜真空计(400);

所述电容式隔膜真空计(400)用于测试腔体(100)内的真空压力值,并反馈给压力调节器(300);

所述压力调节器(300)用于对腔体(100)内的真空压力值进行调节。

7.如权利要求6所述的干刻蚀设备腔体压力测试系统,其特征在于,还包括与所述气体管道(200)端部连接的真空泵(500)。

8.如权利要求6所述的干刻蚀设备腔体压力测试系统,其特征在于,还包括设于所述气体管道(200)上并位于腔体(100)与压力调节器(300)之间的隔离阀(600)。

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