[发明专利]一种发光二极管芯片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810353057.8 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108417692A 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 王志敏;黄丽凤 申请(专利权)人: 如皋市大昌电子有限公司
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/06;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226578 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 绝缘层 导电基板 下电极 顶部安装 缓冲层 衬底 发光二极管芯片 顶部设置 封装支架 电极 套接 制备 多量子阱发光层 六方氮化硼层 三氧化二铝层 氮化硅层 漏电 晶格层 击穿 填充 芯片
【权利要求书】:

1.一种发光二极管芯片,包括封装支架(1)、第一绝缘层(2)、导电基板(3)、衬底(4)、缓冲层(5)、N型氮化镓层(6)、多量子阱发光层(7)、应力释反晶格层(8)、P型氮化镓层(9)、第二绝缘层(10)、上电极(11)和下电极(12),其特征在于:所述封装支架(1)的顶部安装有下电极(12),所述下电极(12)的顶部安装有导电基板(3),所述下电极(12)的外侧套接有第一绝缘层(2),所述第一绝缘层(2)的顶部与导电基板(3)的底部接触,所述导电基板(3)的顶部安装有衬底(4),所述衬底(4)的顶部设置有缓冲层(5),所述缓冲层(5)的顶部设置有N型氮化镓层(6),所述N型氮化镓层(6)的顶部设置有多量子阱发光层(7),所述多量子阱发光层(7)的顶部设置有应力释反晶格层(8),所述应力释反晶格层(8)的顶部设置有P型氮化镓层(9),所述P型氮化镓层(9)的顶部安装有上电极(11),所述上电极(11)的外侧套接有第二绝缘层(10),且第二绝缘层(10)的底部与P型氮化镓层(9)的顶部接触,所述第一绝缘层(2)和第二绝缘层(10)的内部均填充有三氧化二铝层(13)、氮化硅层(14)和六方氮化硼层(15)。

2.一种发光二极管芯片制备方法,包括如下步骤:步骤一,外延片生长;步骤二,去铟球及清洗;步骤三,蒸镀;步骤四,黄光作业;步骤五,化学蚀刻;步骤六,熔合及研磨;步骤七,切割及测试;其特征在于:

其中在上述的步骤一中,通过MOCVD设备在真空条件下,由装有各种所需组分的炉子加热而产生的蒸汽,经小孔准直后形成的分子或原子束,直接喷射到世道温度的单晶基片上,同时控制分子束对衬底(4)扫描,就可使分子或原子按晶体排列一层层地长在基片上形成薄膜;

其中在上述的步骤二中,采用氧化铟锡腐蚀液,在33℃的条件下,腐蚀30min,外延片通过混合液进行清洗,清洗的液体温度保持在60℃,清洗30s;

其中在上述的步骤三中,通过蒸镀机或电子枪进行加热工作,形成镀膜;

其中在上述的步骤四中,通过烘烤和上光阻,再通过显影机进行曝光和显影,显影液通过喷枪射到晶片表面,被光照区域光刻胶被显影液除去,留下刻蚀区域,再利用氧气加射频氧化铟蚀刻区域轰击干净,防止留有残胶;

其中在上述的步骤五中,利用酸性药水,将发光区裸露的金属层蚀刻掉;

其中在上述的步骤六中,利用熔合设备在500℃的条件下,将刻蚀好的晶片放入该项设备,时间为10min,使蒸镀金属层之间或蒸镀金属与磊晶片表层原子相互熔合,熔合后经过减薄机进行研磨;

其中在上述的步骤七中,采用冷冻裂片进行切割,将切割好的晶片用去离子水贴到冷冻机的不锈钢板上,30min后将蓝膜取下,晶片就粘到不锈钢板上,然后用去离子水将晶片冲到筛网里,用异丙醇脱水、烘干即可,再通过探针测试台和颗粒度检测仪进行测试,成为合格的芯片本体。

3.根据权利要求1的一种发光二极管芯片,其特征在于:所述封装支架(1)通过导电银胶与下电极(12)连接。

4.根据权利要求1的一种发光二极管芯片,其特征在于:所述三氧化二铝层(13)、氮化硅层(14)和六方氮化硼层(15)中材料的比例为1:1:1。

5.根据权利要求1的一种发光二极管芯片,其特征在于:所述上电极(11)通过导电银胶与P型氮化镓层(9)连接。

6.根据权利要求2的一种发光二极管芯片制备方法,其特征在于:所述步骤二的混合液比例为H2SO4:H2O2:H2O=5:1:1。

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