[发明专利]用于控制模组测试电源上升时间的方法和装置

说明书

本发明涉及显示模组技术领域，特别是一种用于控制模组测试电源上升时间的方法和装置。基于可编辑门阵列的多通道独立控制，控制过程包括接收到开电指令后，触发每个通道的定时器进行定时；任意一个通道达到该通道定时器对应的定时间隔时，发送一个与该通道的通道号对应的定时中断；接收定时中断，向所述定时中断对应的通道发送一个步进电压值；将每个通道每次接收到的步进电压值进行累加，并将累加后的电压值进行输出。利用FPGA内嵌的CPU做任务调度，通过多通道独立的硬件控制逻辑实现高速并行上电时间及波形的控制。

技术领域

本发明涉及显示模组技术领域，特别是一种用于控制模组测试电源上升时间的方法和装置。

背景技术

显示模组生产商对LCM、OLED等显示模组进行开电点屏测试时，模组IC对测试电源的上升时间有严格的要求，否则可能导致模组工作异常甚至损坏。

通常，采用单片机控制模组测试电源开电上升时间的方式速度较慢，波形较差，时间精度较低，而且由于其执行指令的串行性，无法保证测试模组测试电源多个通道的实时响应性、精确性和并行性。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种波形可控、实时响应性好，效率高的用于控制模组测试电源上升时间的方法和装置。

本发明一种用于控制模组测试电源上升时间的方法的技术方案为：基于可编辑门阵列的多通道独立控制，控制过程包括以下步骤：

S1)接收到开电指令后，触发每个通道的定时器进行定时；

S2)任意一个通道达到该通道定时器对应的定时间隔时，发送一个与该通道的通道号对应的定时中断；

S3)接收定时中断，向所述定时中断对应的通道发送一个步进电压值；

S4)将每个通道每次接收到的步进电压值进行累加，并将累加后的电压值进行输出。

较为优选的，所述可编辑门阵列在开电前通过接收到的配置数据进行配置，其过程为：

接收配置数据，根据所述配置数据计算可编辑门阵列内每个通道的步进数、步进电压以及每个通道的定时器的定时间隔，根据计算出的可编辑门阵列内每个通道的步进数、步进电压以及每个通道的定时器的定时间隔进行配置。

较为优选的，所述配置数据包括可编辑门阵列内每个通道的电源上升时间及输出电压。

较为优选的，所述S3中，每个通道每接收一个定时中断则检测该步骤上次操作是否完成；

若未完成则放弃本次操作；

若已完成则执行本次操作，并将该通道的步进数减1，然后等待下一次定时中断并重复上述操作，直到步进数为零。

较为优选的，所述可编辑门阵列的各个通道与测试电源之间通过I2C或SPI协议进行通讯。

本发明一种用于控制模组测试电源上升时间的装置的技术方案为：基于可编辑门阵列进行控制，该装置包括用于下发配置参数的上位机以及用于接收配置参数的可编辑门阵列，所述可编辑门阵列具有与多个模组测试电源的数模转换器输入端一一对应的多个通道，所述可编辑门阵列根据所述配置参数独立控制多通道电压步进输出。

较为优选的，所述可编辑门阵列包括用于接收上位机下发的配置参数的CPU，所述CPU接收到所述配置参数后计算可编辑门阵列内每个通道的步进数、步进电压以及每个通道的定时器的定时间隔，并根据计算出的可编辑门阵列内每个通道的步进数、步进电压以及每个通道的定时器的定时间隔对可编辑门阵列进行配置。