[发明专利]信号完整性测试的判据查找方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201810224452.6 申请日: 2018-03-19
公开(公告)号: CN108828427B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 黄小清;刘圣文;王琳;艾奇获 申请(专利权)人: 深圳市共进电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳青年人专利商标代理有限公司 44350 代理人: 傅俏梅
地址: 518000 广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园B116、B11*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 信号 完整性 测试 判据 查找 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明适用计算机技术领域,提供了一种信号完整性测试的判据查找方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:根据接收到的用于芯片信号完整性测试的测试用例和对应的所有芯片BOM编码,在芯片数据手册数据库中依次查找以当前BOM编码命名的判据文件夹,在该文件夹和该文件夹的判据记录中查找与测试用例对应的判据截图、测试点和与测试点对应的判据,根据判据截图、测试点以及与测试点对应的判据的查找结果,生成并输出与当前BOM编码关联的判据报告,当当前BOM编码不为所有芯片BOM编码中的最后一个BOM编码时,则根据前序步骤,对当前BOM编码的下一个BOM编码继续进行判据查找,从而提高了信号完整性测试的判据查找的自动化程度和准确度,进而提高了用户体验。

技术领域

本发明属于计算机技术领域,尤其涉及一种信号完整性测试的判据查找方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

目前,业内硬件测试工程师测试芯片信号质量,测试判据都是需要通过手动查找数据手册(Datasheet)来实现,具体步骤为:硬件测试工程师拿到一个硬件测试项目,都要根据该项目的物料清单(Bill ofMaterial,简称BOM)下载对应芯片的Datasheet,然后根据对应芯片的Datasheet查找所需判据,然后将截图粘贴到报告,将具体的判据整理填写到测试数据(Test data)表格的判据(Criteria)中,当有多个测试用例或多个芯片需要测试的时候,测试步骤则需要反复执行,从而造成测试工作费时、繁琐、易出错以及测试报告质量不佳等问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种信号完整性测试的判据查找方法、装置、设备及存储介质,旨在解决由于现有技术无法提供一种有效的信号完整性测试的判据查找方法,导致信号完整性测试的判据查找繁琐费时且易出错的问题。

一方面,本发明提供了一种信号完整性测试的判据查找方法,所述方法包括下述步骤:

接收用于芯片信号完整性测试的测试用例和与所述测试用例对应的所有芯片BOM编码;

从所述所有芯片BOM编码中依次获取一BOM编码,将所述获取的一BOM编码设置为所述测试用例下判据查找的当前BOM编码;

在预先建立的芯片数据手册数据库中查找以所述当前BOM编码命名的判据文件夹;

在所述查找到的判据文件夹中查找与所述测试用例对应的判据截图,并在所述判据文件夹预先建立的判据记录中查找与所述测试用例对应的测试点和与所述测试点对应的判据;

根据所述判据截图、所述测试点以及与所述测试点对应的所述判据的查找结果,生成并输出所述当前BOM编码关联的判据报告;

判断所述当前BOM编码是否为所述所有芯片BOM编码中的最后一个BOM编码,是则,结束所述测试用例下的判据查找,否则,跳转到从所述所有芯片BOM编码中依次获取一BOM编码的步骤。

另一方面,本发明提供了一种信号完整性测试的判据查找装置,所述装置包括:

参数接收单元,用于接收用于芯片信号完整性测试的测试用例和与所述测试用例对应的所有芯片BOM编码;

编码设置单元,用于从所述所有芯片BOM编码中依次获取一BOM编码,将所述获取的一BOM编码设置为所述测试用例下判据查找的当前BOM编码;

文件夹查找单元,用于在预先建立的芯片数据手册数据库中查找以所述当前BOM编码命名的判据文件夹;

判据查找单元,用于在所述查找到的判据文件夹中查找与所述测试用例对应的判据截图,并在所述判据文件夹预先建立的判据记录中查找与所述测试用例对应的测试点和与所述测试点对应的判据;

判据报告输出单元,用于根据所述判据截图、所述测试点以及与所述测试点对应的所述判据的查找结果,生成并输出所述当前BOM编码关联的判据报告;以及

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