[发明专利]偏振片光学参数的测试装置

权利要求书

1.一种偏振片光学参数的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：控制模块、测试光模块、被测件固定模块、第一检测模块和第二检测模块；

所述被测件固定模块，用于固定所述偏振片；

所述测试光模块，用于产生测试光并投射至所述偏振片；检测所述测试光的第一能量值；

所述第一检测模块，用于检测来自所述偏振片的第一反射光的第二能量值；

所述第二检测模块，用于检测来自所述偏振片的第一透射光的第三能量值；

所述控制模块，用于控制所述被测件固定模块、所述测试光模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块的状态；根据所述第一能量值、所述第二能量值和所述第三能量值，计算所述偏振片的光学参数。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：外壳；

所述控制模块、所述测试光模块、所述被测件固定模块、所述第一检测模块和所述第二检测模块位于所述外壳中；

所述外壳的外表面上，具有对应所述控制模块的控制功能的功能控件。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：显示模块；

所述显示模块设置于所述外壳的外表面上、并与所述控制模块相连，用于显示所述控制模块的输出数据。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试光模块包括：光源和测试光产生及监测模块；

所述光源，用于发射光线；

所述测试光产生及监测模块，用于利用所述光线产生所述测试光，将所述测试光投射至所述偏振片；检测所述测试光的第一能量值。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试光产生及监测模块包括：功率控制器、偏振模块、分光结构和第一能量探测器；

所述功率控制器，用于利用所述光线产生设定功率范围的第一测试光；

所述偏振模块，用于利用所述第一测试光产生设定偏振方向的第二测试光；

所述分光结构，用于将所述第二测试光分为第二反射光和第二透射光，将所述第二透射光投射至所述偏振片，将所述第二反射光投射至所述第一能量探测器；

所述第一能量探测器，用于检测所述第二反射光的第四能量值；所述第一能量值为所述第四能量值乘以所述分光结构的分光比。

6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一检测模块包括：

第一检偏模块和第二能量探测器；

所述第一检偏模块，用于调整所述第一反射光的偏振模式；

所述第二能量探测器，用于检测经调整的所述第一反射光的第二能量值。

7.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第二检测模块包括：

第二检偏模块和第三能量探测器；

所述第二检偏模块，用于调整所述第一透射光的偏振模式；

所述第三能量探测器，用于检测经调整的所述第一透射光的第三能量值。

8.如权利要求1至7任一项所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块被配置为执行如下至少一项：

使用所述第二能量值除以所述第一能量值，得到所述偏振片的反射率；

使用所述第三能量值除以所述第一能量值，得到所述偏振片的透射率；

使用所述第二能量值除以所述第三能量值，得到所述偏振片的消光比；

使用所述第一能量值与所述第二能量值及所述第三能量值的差，除以所述第一能量值，得到所述偏振片的损耗率。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：电源模块，用于在所述控制模块的控制下，为所述测试装置中的模块供电。