[发明专利]一种Buck-Boost集成稳压芯片的好坏检测装置及方法

权利要求书

1.一种Buck-Boost集成稳压芯片的好坏检测装置，其特征在于：包括8脚IC座(1)、5脚IC座(2)、多谐振荡电路(3)、X9C102数字电位器(4)、脉宽调制电路(5)、组合逻辑控制电路(6)、端口切换电路(7)、升压电路(8)；8脚IC座(1)、5脚IC座(2)均与端口切换电路(7)相连，端口切换电路(7)分别与脉宽调制电路(5)、组合逻辑控制电路(6)、升压电路(8)连接，多谐振荡电路(3)通过X9C102数字电位器(4)与脉宽调制电路(5)连接；

所述组合逻辑控制电路(6)包括开关K1、K2、K3、K4、电阻R5、R6、R7、R8、非门N1、N2、N3、N4、四输入与门F1、F2、F3、F4、或门M1、M2；所述开关K1、K2、K3、K4的一端同时与+5V电源端连接，开关K1、K2、K3、K4的另一端分别连接着非门N1、N2、N3、N4的输入端，非门N1、N2、N3、N4的输入端分别通过电阻R5、R6、R7、R8接地，非门N1、N4的输入端分别与四输入与门F1的输入端A1、四输入与门F4的输入端D4连接，非门N2的输入端同时连接着四输入与门F2的输入端B2、四输入与门F3的输入端B3连接，非门N1的输出端同时连接着四输入与门F2的输入端A2、四输入与门F3的输入端A3、四输入与门F4的输入端A4，非门N2的输出端同时连接着四输入与门F1的输入端B1、四输入与门F4的输入端B4，非门N3的输出端同时连接着四输入与门F1的输入端C1、四输入与门F2的输入端C2、四输入与门F3的输入端C3、四输入与门F4的输入端C4，非门N4的输出端同时连接着四输入与门F1的输入端D1、四输入与门F2的输入端D2、四输入与门F3的输入端D3，四输入与门F1、F2的输出端Y1、Y2分别与或门M1的两个输入端连接，四输入与门F3、F4的输出端Y3、Y4分别与或门M2的两个输入端连接；

利用所述装置进行Buck-Boost集成稳压芯片好坏检测的方法，所述方法的具体步骤如下：

A、将被检测芯片按规定的管脚顺序插入IC座，8脚芯片插入8脚IC座(1)，5脚芯片插入5脚IC座(2)；

B、接通电源；

C、多谐振荡电路(3)输出脉冲信号给X9C102数字电位器(4)，每当下降沿到来时，X9C102数字电位器(4)VW/RW端的电压逐渐升高，使脉宽调制电路(5)输出的PWM占空比逐渐升高；

D、若被检测的芯片为5脚恒压型Buck-Boost集成稳压芯片，按下开关K1；

若被检测芯片正常工作，则LED1发光二极管的亮度逐渐增大；若被检测的芯片有故障，则LED1发光二极管的亮度不变或LED1发光二极管不发光；

E、若被检测的芯片为5脚恒流型Buck-Boost集成稳压芯片，按下开关K2，开关K1、K3、K4不动作；

若被检测芯片正常工作，则LED1、LED2发光二极管的亮度逐渐增大；若被检测的芯片有故障，则LED1、LED2发光二极管的亮度不变或LED1、LED2发光二极管不发光；

F、若被检测的芯片为8脚恒压型Buck-Boost集成稳压芯片，按下开关K3，开关K1、K2、K4不动作；

若被检测芯片正常工作，则LED1发光二极管的亮度逐渐增大；若被检测的芯片有故障，则LED1发光二极管的亮度不变或LED1发光二极管不发光；

G、若被检测的芯片为8脚恒流型Buck-Boost集成稳压芯片，按下开关K4，开关K1、K2、K3不动作；

若被检测芯片正常工作，则LED1、LED2发光二极管的亮度逐渐增大；若被检测的芯片有故障，则LED1、LED2发光二极管的亮度不变或LED1、LED2发光二极管不发光；

I、检测完毕，关闭电源；

所述步骤D中，若被检测的芯片为5脚恒压型Buck-Boost集成稳压芯片，按下开关K1，非门N1、N2、N3、N4分别输出高电平、低电平、低电平、低电平信号，四输入与门F1、F2、F3、F4分别输出高电平、低电平、低电平、低电平信号，或门M1、M2分别输出高电平、低电平信号，经过单刀双掷模拟开关Ⅰ转换后5脚IC座(2)的1脚为低电平信号，5脚IC座(2)的2脚与脉宽调制电路(5)的输出端连接，经过单刀双掷模拟开关Ⅱ转换后5脚IC座(2)的4脚与单刀双掷模拟开关Ⅱ的D1端连接，5脚IC座(2)的3脚与单刀双掷模拟开关Ⅱ的D2端连接，5脚IC座(2)的5脚与单刀双掷模拟开关Ⅲ的S2B端连接；

所述步骤E中，若被检测的芯片为5脚恒流型Buck-Boost集成稳压芯片，按下开关K2，开关K1、K3、K4不动作，非门N1、N2、N3、N4分别输出低电平、高电平、低电平、低电平信号，四输入与门F1、F2、F3、F4分别输出低电平、高电平、高电平、低电平信号，或门M1、M2分别输出高电平、高电平信号，经过单刀双掷模拟开关Ⅰ转换后5脚IC座(2)的1脚为低电平信号，5脚IC座(2)的2脚与脉宽调制电路(5)的输出端连接，经过单刀双掷模拟开关Ⅱ转换后5脚IC座(2)的4脚与单刀双掷模拟开关Ⅱ的D1端连接，5脚IC座(2)的3脚与单刀双掷模拟开关Ⅱ的D2端连接，5脚IC座(2)的5脚与单刀双掷模拟开关Ⅲ的S2A端连接，被检测芯片处于恒流状态。