[发明专利]网络分析仪的相位相干的主单元和远程单元

说明书

本发明涉及一种网络分析仪，所述网络分析仪包括主单元和物理地分离的远程单元。在至少一种配置中，所述主单元生成测试信号并穿过待测装置向所述远程单元发射测试信号。所述主单元中的参考电路使用来自本地振荡器和模拟‑数字ADC采样时钟的信号来产生代表如发射到所述待测装置的所述测试信号的参考信号数据。所述远程单元中的接收电路使用如所述参考电路为了产生所述参考信号数据而使用的来自所述本地振荡器和ADC采样时钟的相同信号来产生代表如从所述待测装置接收的所述测试信号的所接收的信号数据。将所接收的信号数据与所述参考信号数据进行比较，指示所述待测装置的参数，包括如由所述待测装置引起的所述测试信号的衰减和相移。

背景技术

技术领域

本公开涉及网络分析仪，并且更具体地涉及具有能够耦接至待测装置的主单元和远程单元的网络分析仪系统。

背景技术

网络分析仪被设计来测量电网络的参数。网络分析仪通常穿过待测装置以各种频率传送测试信号，以产生表征待测装置的电特性和参数的报告。

虽然网络分析仪时常用于测量待测装置的s-参数，但它们也可用于测量诸如y-参数、z-参数和h-参数的其他网络参数。s-参数（或散射参数）响应于穿过网络传送的各种稳态电信号而描述了电网络的行为。可以使用包括增益、回波损耗、电压驻波比率（VSWR）、反射系数和放大器稳定性的s-参数来表示诸如电感器、电容器和电阻器的部件的电特性。尽管适用于任何频率，但s-参数主要用于以射频（RF）和微波频率运行的网络。s-参数随着测量频率而变化，所以必须针对所进行的任何s-参数测量来确认测试信号的频率。

基本网络分析仪包括标量网络分析仪，其仅测量振幅的变化，和矢量网络分析仪，其测量振幅和相位二者的变化。当使用由耦接至待测装置的一端的主单元和耦接至待测装置的另一端的物理地分离的远侧单元组成的矢量网络分析仪时，可以测量经过待测装置的测试信号的振幅的变化，但不能准确地确定测试信号的相位的变化，因为主单元和远侧单元具有不以相位相干方式运行的单独的相位检测电路。本公开解决了对网络分析仪系统的相位相干的主单元和远程单元的需求以及本领域的其他需求。

附图说明

图1A是耦接至待测装置的连接点的网络分析仪的简化框图。

图1B是由分别耦接至待测装置的连接点的主单元和远程单元组成的网络分析仪的简化框图。

图2是由分别耦接至待测装置的连接点的主单元和远程单元组成的网络分析仪的详细框图，其中另外的传输电缆提供横穿待测装置的测试信号的相位相干的测量。

具体实施方式

图1A以简化形式示出了耦接至待测装置12的网络分析仪10的一个示例。在处理器14的控制下，网络分析仪10通过一个或多个端口16（这里标记为1至8）输出和/或接收测试信号。在例示的示例中，待测装置12耦接至网络分析仪10的端口1和端口5。由网络分析仪经由端口1发射的测试信号横穿待测装置12并经由端口5接收。根据待测装置12的特性，可经由端口1反射回并接收经由端口1发射的测试信号的一部分。然后，对所接收的测试信号进行分析以产生表征待测装置的电性能的测量的参数诸如s-参数。

网络分析仪10包括合成器18（也称为信号源或信号发生器），该合成器以已知功率和已知信号频率或在已知信号频率范围内产生测试信号。例如，合成器18可为变频连续波信号源，该变频连续波信号源使用可变衰减器来设定信号输出的功率电平。处理器14用来控制网络分析仪10中的合成器18和电路，该电路将测试信号从合成器18传送到期望的端口，以便发射到待测装置12。