[发明专利]液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法

权利要求书

1.一种液晶盒测试装置，用于对待测液晶显示面板进行分析测试；其特征在于，所述液晶盒测试装置在进行测试时配置于由所述待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间；

所述液晶盒测试装置包括：

相对设置的第一基板和第二基板；

位于所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层；

位于所述第一基板面向所述液晶层一侧的第一取向层；

位于所述第二基板面向所述液晶层一侧的第二取向层；

其中，所述液晶层中的液晶分子与所述待测液晶显示面板中的液晶分子具有相同的类型；

所述第一取向层包括多个第一取向单元，所述第二取向层包括多个第二取向单元，且所述第一取向单元与所述第二取向单元一一对应设置；

其中，所述多个第一取向单元与所述多个第二取向单元所限定的多个液晶取向区域对应一组显示灰阶。

2.根据权利要求1所述的液晶盒测试装置，其特征在于，所述液晶盒测试装置还包括位于所述第一取向层和所述第二取向层之间的间隔件。

3.根据权利要求1所述的液晶盒测试装置，其特征在于，所述第一基板与所述第一取向层的整体厚度处于微米级尺度。

4.根据权利要求3所述的液晶盒测试装置，其特征在于，所述第一基板为硬质透明有机衬底或者减薄玻璃衬底。

5.根据权利要求3所述的液晶盒测试装置，其特征在于，所述第二基板与所述第二取向层的整体厚度处于微米级尺度。

6.根据权利要求1-5任一项所述的液晶盒测试装置，其特征在于，所述第一取向层的取向与所述待测阵列基板的取向层的取向一致，所述第二取向层的取向与所述待测彩膜基板的取向层的取向一致。

7.一种液晶显示面板的测试方法，用于对待测液晶显示面板进行分析测试；其特征在于，所述测试方法包括：

将权利要求1-6任一项所述的液晶盒测试装置配置于由所述待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间，以形成第一待测显示系统；

为所述第一待测显示系统提供背光源并控制所述第一待测显示系统进行画面的显示；

在检测到所述第一待测显示系统的显示画面中包括MURA时，将所述待测阵列基板更换为参考阵列基板，或者，将所述待测彩膜基板更换为参考彩膜基板，以形成第二待测显示系统；

根据所述第二待测显示系统的显示画面确定产生所述MURA的位置。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在第一取向层的取向与所述待测阵列基板的取向层的取向一致，第二取向层的取向与所述待测彩膜基板的取向层的取向一致的情况下，所述控制所述第一待测显示系统进行画面的显示包括：

为所述待测阵列基板提供驱动电压，以驱动所述第一待测显示系统进行画面的显示。

9.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在第一取向层包括多个第一取向单元，第二取向层包括多个第二取向单元，且所述第一取向单元与所述第二取向单元一一对应设置的情况下，所述控制所述第一待测显示系统进行画面的显示包括：

控制所述第一待测显示系统进行不同灰阶画面的显示；

其中，所述多个第一取向单元与所述多个第二取向单元所限定的多个液晶取向区域对应一组显示灰阶。

10.根据权利要求7-9任一项所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述第二待测显示系统的显示画面确定产生所述MURA的位置包括：

在所述第二待测显示系统的显示画面中不包括相同位置的所述MURA时，确定产生所述MURA的位置在更换掉的基板上；

在所述第二待测显示系统的显示画面中仍包括相同位置的所述MURA时，确定产生所述MURA的位置在未更换的基板上。