[发明专利]分光器、波长测量装置以及光谱测量方法有效
| 申请号： | 201780041393.2 | 申请日： | 2017-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN109716079B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 小西毅 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人大阪大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/04;G01J9/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 安香子 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分光 波长 测量 装置 以及 光谱 测量方法 | ||
1.一种分光器，用于测量输入光的光谱，所述分光器具备：
条纹形成器，包括第一柱面透镜阵列，该第一柱面透镜阵列通过分离所述输入光，从而形成具有第一间距的第一条纹；
色散元件，使所述第一条纹色散；
莫列波纹形成器，通过将被色散的所述第一条纹与第二间距的第二柱面透镜阵列重叠，从而形成莫列波纹，所述第二间距是与所述第一间距不同的间距；以及
测量器，通过在所述第二柱面透镜阵列的焦点位置检测所述莫列波纹，从而测量所述输入光的光谱。
2.一种波长测量装置，用于测量输入光的波长，所述波长测量装置具备：
条纹形成器，包括第一柱面透镜阵列，该第一柱面透镜阵列通过分离所述输入光，从而形成具有第一间距的第一条纹；
色散元件，使所述第一条纹色散；
莫列波纹形成器，通过将被色散的所述第一条纹与第二间距的第二柱面透镜阵列重叠，从而形成莫列波纹，所述第二间距是与所述第一间距不同的间距；以及
测量器，通过在所述第二柱面透镜阵列的焦点位置检测所述莫列波纹，从而测量所述输入光的波长。
3.一种光谱测量方法，用于测量输入光的光谱，在所述光谱测量方法中，
通过使用第一柱面透镜阵列分离所述输入光，从而形成具有第一间距的第一条纹，
使所述第一条纹色散，
通过将被色散的所述第一条纹与第二间距的第二柱面透镜阵列重叠，从而形成莫列波纹，所述第二间距是与所述第一间距不同的间距，
通过在所述第二柱面透镜阵列的焦点位置检测所述莫列波纹，从而测量所述输入光的光谱。
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