[发明专利]用于基于电磁辐射和/或机械波确定成像的分辨率的制品

权利要求书

1.一种用于基于电磁辐射、机械波、或电磁辐射和机械波两者确定成像的分辨率的制品(101、201、301、601、701)，所述制品包括：

-基底(102、202、302)，以及

-在所述基底之上的层(103、104、203-206、303-306)，所述层包括有机材料，

其特征在于，所述层中的至少两层以部分重叠的方式彼此堆叠，使得所述层中的第一层的边缘(107、207)被布置为与所述层中的第二层的边缘(108、208)相交，所述层构成三维表面形态，其中，当沿着垂直于所述层的方向来观察所述制品时，由所述层中的所述第一层和所述第二层的所述边缘限定的凹槽(111、211、311)朝向所述边缘之间的交点(112、212、312)逐渐变尖细。

2.根据权利要求1所述的制品，其中，所述层中的每一层是Langmuir-Blodgett膜。

3.根据权利要求1或2所述的制品，其中，所述基底由高度有序的热解石墨基底制成。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的制品，其中，所述层中的所述第一层在所述基底上与基底接触，所述层中的所述第二层部分地在所述基底上与所述基底接触、并且部分地在所述层中的所述第一层上与所述层中的所述第一层接触，并且所述边缘之间的、并且朝向所述凹槽(111)开口的角(α₁)在从5度到90度的范围中。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的制品，其中，所述层中的所述第一层(203、303)在所述基底上与基底接触，所述层中的所述第二层(204、304)部分地在所述基底上与基底接触、并且部分地在所述层中的所述第一层上与所述层中的所述第一层接触，所述层中的第三层(205、305)部分地在所述层中的所述第一层上与所述层中的所述第一层接触、并且部分地在所述层中的所述第二层上与所述层中的所述第二层接触，以及所述层中的第四层(206、306)部分地在所述层中的所述第二层上与所述层中的所述第二层接触、并且部分地抵靠所述层中的所述第三层与所述层中的所述第三层接触。

6.根据权利要求5所述的制品，其中，当沿着垂直于所述层的所述方向观察所述制品时，所述层中的所述第一层和所述第二层的所述边缘(207、208)之间的、并且朝向所述凹槽(211)开口的第一角(α₁)在所述层中的所述第三层和所述第四层的边缘(209、210)之间的、并且朝向所述凹槽(211)开口的第二角(α₂)之内。

7.根据权利要求5或6所述的制品，其中，当沿着垂直于所述层的所述方向观察所述制品时，所述层中的所述第一层和所述第二层的所述边缘(207、208、307、308)之间的交点(212、312)大体上和所述层的所述第三层和所述第四层的边缘(209、210、309、310)之间的交点在相同的位置。

8.根据权利要求5所述的制品，其中，当沿着垂直于所述层的所述方向观察所述制品时，所述层中的所述第一层和所述第二层的所述边缘(307、308)之间的、并且朝向所述凹槽(311)开口的第一角(α₁)大体上与所述层中的所述第三层和所述第四层的边缘(309、310)之间的、并且朝向所述凹槽(311)开口的第二角(α₂)重合。

9.一种用于基于电磁辐射、机械波、或电磁辐射和机械波两者确定成像的分辨率的方法，所述方法包括：

-基于从根据权利要求1至8中任一项所述的制品接收到的电磁波或机械波，产生(451)一个或多个成像结果，所述制品具有包括锥形凹槽的预先确定的三维表面形态，以及

-确定(452)由所述一个或多个成像结果展现的所述锥形凹槽的最小宽度，使得预先确定的标准被满足，所确定的所述最小宽度指示所述成像的所述分辨率。