[发明专利]用于测量介质中颗粒的特性的方法和用于测量烟道气中颗粒的特性的装置

权利要求书

1.用于基于在散射区（4）中穿过介质行进的光线（2）的散射来测量所述介质中包含的颗粒的特性的方法，其特征在于：

-不止一次引导所述光线（2）穿过所述散射区（4），由此一部分光被散射，

-使用相同的传感器（6）测量散射光（5）和未散射光两者。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述介质是烟道气。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中通过下列方式：

-引导所述光线（2）穿过所述散射区（4），由此一部分光从所述介质中包含的颗粒散射，以及引导散射到选定角度的所述散射光（5）的部分到所述传感器（6），

-特别是使用反射镜（7,8），再次引导已经沿着直线穿过所述介质行进的未散射光线（2）穿过所述散射区（4）到所述传感器（6）。

4.根据权利要求3所述的方法，其中未散射光（2）的强度的减小例如与反射镜（7,8）有关或与使用滤光器或调光器有关。

5.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，包括：

-将所述光线（2）经光开口从光源（1）引导到所述散射区（4）并且进一步到达所述传感器（6），

-将清洁气体（3）吹过所述光开口，特别是作为层流，以便防止所述方法中使用的光学元件的污染。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述介质，特别是烟道气，在馈送到所述散射区（4）之前被加热。

7.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，其中所述方法包括：

-将测量流与烟道气流分离，所述测量流形成包含所述颗粒的所述介质，

-沿横向于所述散射区（4）处的所述测量流的方向将所述光线（2）引导到所述测量流，由此部分光作为散射光（5）散射到所述传感器（6），

-使用第一反射镜（7）将经过所述散射区（4）的未散射光引导经过所述散射区（4）到第二反射镜（8），以及再次使用所述第二反射镜（8）将所述未散射光引导穿过所述散射区（4）到所述传感器（6），

-使用所述传感器（6）测量所述未散射光（2）和所述散射光（5）两者。

8.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，包括：

-不止一次引导具有不同波长的多个这样的光线（2）穿过所述散射区（4），优选地按顺序引导，由此每个波长的光取决于所述介质的颗粒的尺寸而以不同方式散射，

-使用具有不同波长灵敏度的多个所述传感器（6）检测所述散射光，

-确定所述介质的至少两种不同粒度级的浓度特征。

9.一种测量装置，用于基于穿过在包括散射区（4）的测量管道中流动的介质行进的光线（2）的散射来测量诸如烟道气中的颗粒之类的介质中的颗粒的特性，所述测量装置包括用于产生光线（2）的光源（1）和传感器（6），其特征在于，所述光线（2）布置成不止一次地穿过所述散射区（4），使得散射光（5）和未散射光两者被引导到所述传感器（6），所述传感器（6）布置成测量所述散射光（5）和所述未散射光两者。

10.根据权利要求9所述的测量装置，其中所述光线（2）布置成第一次从所述光源（1）穿过所述散射区（4）行进，由此部分光散射到所述传感器（6），以及所述未散射光线（2）进一步布置成特别是经由反射镜（7,8）再次穿过所述散射区（4）而行进到所述传感器（6）。

11.根据权利要求10所述的测量装置，包括第一反射镜（7）和第二反射镜（8），由此所述第一反射镜（7）布置在第一次穿过所述散射区行进的未散射光的路径上并且适配成将经过所述散射区的光反射到所述第二反射镜（8），所述第二反射镜（8）布置成再次将所述未散射光反射穿过所述散射区（4）而到达所述传感器（6）。