[发明专利]低热膨胀构件用组合物、低热膨胀构件、电子机器及低热膨胀构件的制造方法在审
| 申请号: | 201780015287.7 | 申请日: | 2017-02-28 |
| 公开(公告)号: | CN108713042A | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
| 发明(设计)人: | 藤原武;稲垣顺一;上利泰幸;平野寛;门多丈治;冈田哲周 | 申请(专利权)人: | 捷恩智株式会社;地方独立行政法人大阪产业技术研究所 |
| 主分类号: | C08L59/00 | 分类号: | C08L59/00;C08K3/013;C08K7/14;C09K5/14 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 李艳;臧建明 |
| 地址: | 日本东京千代田区大手町二丁*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 低热膨胀构件 无机填料 偶合剂 键结 导热性 半导体元件 电子机器 高耐热性 热膨胀率 硬化处理 导热率 制造 | ||
1.一种低热膨胀构件用组合物,其特征在于包含:
与第1偶合剂的一端键结的导热性的第1无机填料;及
与第2偶合剂的一端键结的导热性的第2无机填料;
通过硬化处理,所述第1无机填料与所述第2无机填料经由所述第1偶合剂与所述第2偶合剂而键结,
所述热膨胀控制构件的热膨胀率各不相同。
2.根据权利要求1所述的低热膨胀构件用组合物,其中所述第1无机填料与所述第2无机填料为选自由氧化铝、氧化镁、氧化锌、二氧化硅、堇青石、氮化硅、及碳化硅所组成的群组中的至少一者。
3.根据权利要求1或2所述的低热膨胀构件用组合物,其中所述第1偶合剂与所述第2偶合剂相同。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的低热膨胀构件用组合物,其还包含具有与所述第1无机填料及所述第2无机填料不同的热膨胀率的导热性的第3无机填料。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的低热膨胀构件用组合物,其还包含所述第1无机填料及所述第2无机填料所未键结的有机化合物、高分子化合物、或玻璃纤维。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的低热膨胀构件用组合物,在所述第1偶合剂的另一端键结有二官能以上的聚合性化合物的一端,所述低热膨胀构件用组合物的特征在于,
通过硬化处理,所述聚合性化合物的另一端键结于所述第2偶合剂的另一端。
7.根据权利要求6所述的低热膨胀构件用组合物,其中所述二官能以上的聚合性化合物为下述式(1-1)所表示的至少一种聚合性液晶化合物;
Ra-Z-(A-Z)m-Ra…(1-1)
[所述式(1-1)中,
Ra分别独立地为能够与第1偶合剂及第2偶合剂的另一端的官能基键结的官能基;
A为1,4-亚环己基、1,4-亚环己烯基、1,4-亚苯基、萘-2,6-二基、四氢萘-2,6-二基、芴-2,7-二基、双环[2.2.2]辛-1,4-二基、或双环[3.1.0]己-3,6-二基,
所述环上,任意的-CH2-可被-O-取代,任意的-CH=可被-N=取代,任意的氢可被卤素、碳数1~10的烷基、或碳数1~10的卤化烷基取代,
所述烷基中,任意的-CH2-可被-O-、-CO-、-COO-、-OCO-、-CH=CH-、或-C≡C-取代;
Z分别独立地为单键、或碳数1~20的亚烷基,
所述亚烷基中,任意的-CH2-可被-O-、-S-、-CO-、-COO-、-OCO-、-CH=CH-、-CF=CF-、-CH=N-、-N=CH-、-N=N-、-N(O)=N-、或-C≡C-取代,任意的氢可被卤素取代;
m为1~6的整数]。
8.根据权利要求7所述的低热膨胀构件用组合物,其中所述式(1-1)中,A为1,4-亚环己基、任意的氢被卤素取代的1,4-亚环己基、1,4-亚苯基、任意的氢被卤素或甲基取代的1,4-亚苯基、芴-2,7-二基、或任意的氢被卤素或甲基取代的芴-2,7-二基。
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