[发明专利]电容按钮上水的强固性及检测

说明书

一种用于触摸检测的方法包含：从多个传感器测量识别经高通滤波序列(810,830)；将来自第一经高通滤波序列的数个样本累加(825,845)到经累加值中；比较第一经累加值与累加值的阈值；及基于所述经累加值是否大于经累加值的所述阈值的确定，识别是否已接近所述传感器。

优先权

本申请案主张2016年3月29日申请的第62/314,886号美国临时申请案的优先权，出于所有目的，所述申请案以引用的方式并入本文中。

技术领域

本发明涉及接近及触摸感测，且更特定来说，涉及电容按钮上水的强固性及检测。

背景技术

针对用于不同应用中，许多不同触摸、接近及手势检测装置是可用的。例如，各种电容触摸检测技术可从本申请案的受让人获得。这些装置依据电容分压(CVD)或充电时间测量技术的原理作用。参见例如微芯科技公司(Microchip Technology Inc)发布的标题为“mTouch^TM感测解决方案采集方法电容分压器(mTouch^TM Sensing Solution AcquisitionMethods Capacitive Voltage Divider)”的应用笔记AN1478，应用笔记AN1375揭示由微芯科技公司发布的“看看你可以用CTMU做什么(See What You Can Do with the CTMU)”。触摸及接近感测按钮通常由具有低处理能力的极低端微控制器实现。通常，最简单及直接的解决方案是所选的解决方案。

发明内容

本发明的实施例包含含有指令的至少一个计算机可读媒体，所述指令在由处理器加载并执行时引起处理器识别多个传感器测量的第一经高通滤波序列。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器将来自第一经高通滤波序列的多个样本累加到第一经累加值中。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器比较第一经累加值与经累加传感器测量或值的第一阈值。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器基于第一经累加值是否大于经累加传感器测量或值的第一阈值的确定，识别是否已接近传感器。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器在高通滤波之前或之后引起传感器测量的第一低通滤波。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步包括用于引起处理器识别多个传感器测量的第二经高通滤波序列的指令。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器将来自第二经高通滤波序列的多个样本累加到第二经累加值中。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器比较第二经累加值与经累加传感器测量或值的第二阈值。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器基于第二经累加值是否大于经累加传感器测量或值的第二阈值的确定，识别是否已接近传感器。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器通过计算传感器测量之间的差异而计算第一经高通滤波序列。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器在第一经高通滤波序列改变其正负号时复位第一经累加值。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器在经高通滤波序列的低通滤波结果改变其正负号时复位值。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器计数第一经累加值的复位次数，其中给定复位在经定义时间间隔期间发生于第一经累加值超过累加阈值之后。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器在经高通滤波序列达到复位阈值时复位第一经累加值。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器将由第一低通滤波器预处理的经高通滤波序列或传感器测量输入到具有用户定义的触发器磁滞阈值的施密特(Schmitt)触发器中，其中当施密特触发器输出呈可能的两个输出电平的一个预定义电平时，复位第一经累加值。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器通过比较经定义时间间隔内的经累加值的复位次数与计数阈值而确定移动水分是否存在于传感器上。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器通过传感器测量确定移动水分是否存在于传感器上。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器基于移动水分是否存在于传感器上而解弹跳是否已接近传感器的识别。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器基于是否已减小第一经累加值而解弹跳是否已接近传感器的识别。结合上文实施例中的任何者，指令可进一步引起处理器基于移动水分是否存在于传感器上而延长用于解弹跳是否已接近传感器的识别的时间。