[实用新型]一种集成电路编程校验系统

说明书

一种集成电路编程校验系统，所述集成电路编程校验系统包括：编程模块，用于在校验模块的控制下对被测集成电路编程；校验模块，用于在编程阶段控制编程模块对被测集成电路编程并产生第一校验信息，在校验阶段使被测集成电路基于自身编程情况计算第二校验信息，根据第一校验信息与第二校验信息是否匹配来产生校验结果。能够实现对被测集成电路的编程校验，从而提高集成电路的产品良率。

技术领域

本公开涉及集成电路技术领域，具体涉及一种集成电路编程校验系统。

背景技术

在硬件系统的开发与设计中，对集成电路进行的数据读写操作被称为对芯片编程(Program)。例如，采用单片机(Microcontroller Unit)控制的各种系统需要将开发的控制程序编程到单片机；对用于储存配置数据的芯片进行编程；对用于IC设计的现场可编程门阵列元件(Field Programmable Gate Array Devices,FPGADevices)或复杂可编程逻辑元件(Complex Programmable Logic Devices,CPLD)的编程。

然而由于集成电路本身和编程过程的复杂性，存在编程错误或失败的可能，这将会产生不良品，降低产品良率。因此需要一种技术能够校验集成电路是否被正确编程。

实用新型内容

有鉴于此，本公开提供了一种集成电路编程校验系统，能够对集成电路的编码进行校验。

根据本公开的第一方面，提供了一种集成电路编程校验系统，包括：被测集成电路；编程模块，用于在校验模块的控制下对被测集成电路编程；校验模块，用于在编程阶段控制编程模块对被测集成电路编程并产生第一校验信息，在校验阶段使被测集成电路基于自身编程情况计算第二校验信息，根据第一校验信息与第二校验信息是否匹配来产生校验结果。

优选地，所述校验模块包括：第一电源；存储单元，与所述被测集成电路相连，用于存储校验程序；模式配置单元，与所述被测集成电路相连，用于使所述被测集成电路按照所述模式配置单元中的配置信息来工作；开关单元，连接在所述电源、被测集成电路和编程模块之间；控制单元，与所述开关单元和模式配置单元相连，用于在编程阶段控制开关单元将编程模块与被测集成电路相连，并设置所述模式配置单元中的配置信息使得编程模块对被测集成电路编程并产生第一校验信息，在校验阶段控制所述开关单元将所述被测集成电路与所述编程模块断开并与所述电源相连以使被测集成电路基于自身编程情况计算第二校验信息，并根据第一校验信息与第二校验信息是否匹配来产生校验结果。

优选地，所述控制单元配置成在校验阶段通过设置所述模式配置单元中的配置信息使得被测集成电路调用存储单元中的校验程序来计算所述第二校验信息，并在所述第一校验信息与第二校验信息匹配时判定校验通过。

优选地，所述校验模块还包括：人机交互单元，用于接收编程命令以及输出编程结果和/或校验结果；并且所述控制单元在接收到来自人机交互单元的编程命令后进入编程阶段，在产生编程结果和/或校验结果后通过人机交互单元输出。

优选地，所述编程模块具有用于在编程时为被测集成电路供电的第二电源。

优选地，所述第一电源与第二电源具有不同的供电参数。

优选地，所述存储单元包括非易失性存储单元。

优选地，所述被测集成电路为多个，所述校验模块还用于每当针对一个被测集成电路完成了编程和校验之后，按照预设的顺序对下一个被测集成电路执行编程和校验。

优选地，所述第一校验信息和第二校验信息为所编写的程序代码的校验和。