[实用新型]非接触式点光源成像测量反射面位置的装置有效
| 申请号: | 201721630983.2 | 申请日: | 2017-11-29 |
| 公开(公告)号: | CN207622690U | 公开(公告)日: | 2018-07-17 |
| 发明(设计)人: | 孙宏 | 申请(专利权)人: | 福州锐景达光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司: | 福州市众韬专利代理事务所(普通合伙) 35220 | 代理人: | 王旭;王良财 |
| 地址: | 350000 福建省福州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光轴 点光源 半透半反镜 色散 凸透镜 本实用新型 传感器组件 反射面位置 图像传感器 成像测量 非接触式 基准面 垂直 位移传感器 传感技术 范围限制 光线入射 夹角设置 角平分线 制造成本 反射面 面对称 共焦 量程 对称 测量 焦点 镜头 | ||
1.一种非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:包括机架(1)、设置于机架(1)上的用于放置被测物体(2)的基准面(3)、滑动连接于机架(1)上且可在靠近或远离基准面(3)的方向上移动的传感器组件(4)以及设置于机架(1)上且位于基准面(3)和传感器组件(4)之间的用于获取传感器组件(4)相对基准面(3)位置信息的位移传感器(5);所述传感器组件(4)包括沿光线入射方向依次设置于第一光轴(41)上的点光源(42)、半透半反镜(43)、凸透镜一(44)以及设置于第二光轴(45)上的用于获取经被测物体(2)的被测反射面(21)和半透半反镜(43)反射后光线的图像传感器(46);所述第一光轴(41)与基准面(3)垂直,第一光轴(41)和第二光轴(45)呈设定的夹角设置;所述点光源(42)位于凸透镜一(44)的焦点上,所述图像传感器(46)与第二光轴(45)的交点和点光源(42)与第一光轴(41)的交点以半透半反镜(43)为对称面对称设置,所述半透半反镜(43)位于第一光轴(41)和第二光轴(45)的角平分线上使得经被测反射面(21)反射后的光线能经半透半反镜(43)偏折到第二光轴(45)。
2.根据权利要求1所述的非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:所述图像传感器(46)采用面阵图像传感器,所述点光源(42)采用单色点光源。
3.根据权利要求1所述的非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:所述位移传感器(5)为设置于机架(1)上且位于基准面(3)和传感器组件(4)之间的光栅尺。
4.根据权利要求1所述的非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:所述半透半反镜(43)与第一光轴(41)和第二光轴(45)均呈45°夹角。
5.一种非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:包括机架(1′)、设置于机架(1′)上的用于放置被测物体(2′)的基准面(3′)、滑动连接于机架(1′)上且可在靠近或远离基准面(3′)的方向上移动的传感器组件(4′)以及设置于机架(1′)上且位于基准面(3′)和传感器组件(4′)之间的用于获取传感器组件(4′)位置信息的位移传感器(5′);所述传感器组件(4′)包括沿光线入射方向依次设置于第一光轴(41′)上的点光源(42′)、凸透镜二(47′)、半透半反镜(43′)、凸透镜一(44′)以及沿光线入射方向依次设置于第二光轴(45′)上的凸透镜三(48′)和图像传感器(46′),所述第一光轴(41′)与基准面(3′)垂直,所述点光源(42′)位于凸透镜二(47′)的焦点上,所述图像传感器(46′)位于凸透镜三(48′)的焦平面上,所述第一光轴(41′)和第二光轴(45’)呈设定的夹角设置,所述半透半反镜(43′)位于第一光轴(41’)和第二光轴(45’)的角平分线上使得经被测反射面(21’)反射后的光线能经半透半反镜(43’)偏折到第二光轴(45’)。
6.根据权利要求5所述的非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:所述图像传感器(46’)采用面阵图像传感器,所述点光源(42’)采用单色点光源。
7.根据权利要求5所述的非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:所述位移传感器(5’)为设置于机架(1’)和传感器组件(4’)之间的光栅尺。
8.根据权利要求5所述的非接触式点光源成像测量反射面位置的装置,其特征在于:所述半透半反镜(43’)与第一光轴(41’)和第二光轴(45’)均呈45°夹角。
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