[实用新型]频域介电响应测试的温度校正设备及测试设备

权利要求书

1.一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述设备包括温度测量电路、信号合成电路、高压放大电路、信号处理电路、校正电路；

所述温度测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述温度测量电路将在频域介电谱FDS测试之前测量的电介质的温度，发送给所述信号处理电路；

所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述信号处理电路将其得到的所述电介质在高频信号下的介质损耗参数，以及所述高频信号下的介质损耗参数与所述FDS测试之前电介质温度的对应关系，发送给所述校正电路；

所述信号合成电路与所述高压放大电路相连，以便所述信号合成电路将所述高频信号与待测频率信号合成的信号发送给所述高压放大电路；

所述高压放大电路与所述信号处理电路相连，以便所述高压放大电路将所述合成信号放大后发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路得到所述合成信号在各频点的介质损耗参数；

所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述校正电路根据来自所述信号处理电路的所述合成信号各频点的介质损耗参数，以及根据所述高频信号下所述电介质的介质损耗参数与所述电介质温度的对应关系，确定同一温度下所述待测频率信号的各频点的介质损耗参数。

2.如权利要求1所述的一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述频域介电响应测试的温度校正设备还包括电流测量电路；

所述电流测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述电流测量电路将其测量得到的电介质的响应电流信号，发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路根据所述电介质的响应电流信号，得到所述电介质的介质损耗参数。

3.如权利要求2所述的一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述电流测量电路包括相互连接的低偏置电流运算放大器、反馈电阻。

4.如权利要求1所述的一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述高压放大电路包括相互连接的高压算法放大器、负反馈电路、分压电路。

5.一种频域介电响应测试设备，其特征在于，所述设备包括温度测量电路、信号合成电路、高压放大电路、信号处理电路、校正电路、比较电路；

所述温度测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述温度测量电路将在频域介电谱FDS测试之前测量的电介质的温度，发送给所述信号处理电路；

所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述信号处理电路将其得到的所述电介质在高频信号下的介质损耗参数，以及所述高频信号下的介质损耗参数与所述FDS测试之前电介质温度的对应关系，发送给所述校正电路；

所述信号合成电路与所述高压放大电路相连，以便所述信号合成电路将所述高频信号与待测频率信号合成的信号发送给所述高压放大电路；

所述高压放大电路与所述信号处理电路相连，以便所述高压放大电路将所述合成信号放大后发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路得到所述合成信号在各频点的介质损耗参数；

所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述校正电路根据来自所述信号处理电路的所述合成信号各频点的介质损耗参数，以及根据所述高频信号下所述电介质的介质损耗参数与所述电介质温度的对应关系，确定同一温度下所述待测频率信号的各频点的介质损耗参数；

所述校正电路与所述比较电路相连，以便所述校正电路将所述同一温度下的所述待测频率信号的各频点的介质损耗参数发送给所述比较电路，从而使所述比较电路将所述待测频率信号的各频点的介质损耗参数与FDS测试数据库中的介电谱进行比较分析，以得到所述电介质的主绝缘体的损耗参数。

6.如权利要求5所述的一种频域介电响应测试设备，其特征在于，所述频域介电响应测试设备还包括电流测量电路；

所述电流测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述电流测量电路将其测量得到的电介质的响应电流信号，发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路根据所述电介质的响应电流信号，得到所述电介质的介质损耗参数。

7.如权利要求6所述的一种频域介电响应测试设备，其特征在于，所述电流测量电路包括相互连接的低偏置电流运算放大器、反馈电阻。

8.如权利要求5所述的一种频域介电响应测试设备，其特征在于，所述高压放大电路包括相互连接的高压算法放大器、负反馈电路、分压电路。