[实用新型]IC短路保护电压阈值检测电路

说明书

本实用新型涉及一种IC短路保护电压阈值检测电路，包括待检测IC模块以及为待检测IC模块提供工作电压的工作电源模块，待检测IC模块包括VM引脚、VSS引脚以及DO引脚，检测电路还包括两端分别连接至VSS引脚和VM引脚的第一电阻R1以及连接至VM引脚用于为VM引脚提供测试电压的测试电源模块，VSS引脚接地，VM引脚和DO引脚连接电压波形监测模块。本实用新型实施例通过设有工作电压模块给待检测IC模块输出工作电压，然后通过在VSS引脚和VM引脚之间串联第一电阻R1，维持待检测IC模块的正常工作的同时确保测试电源模块输出测试电压至VM引脚时不跌落，使待检测IC模块能够正常启动短路保护，从而实现精确测量待检测IC模块短路保护时的电压阈值和延时的目的。

技术领域

本实用新型涉及检测电路技术领域，特别涉及一种IC短路保护电压阈值检测电路。

背景技术

在IC的生产过程中需要对IC进行一系列的性能测试，例如：对锂电池所用IC的短路保护的测试，现有的测试方案采用在IC的VM引脚和 VSS引脚之间连接直流电源的方式，通过将直流电源输出电压从0V瞬间调至1V，根据IC的DO引脚电压波形变化来判断IC是否启动短路保护。

但是上述测试方法不能准确测量IC短路保护的电压阈值和延时，测量效果不理想。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于针对现有技术中的不足之处，提供一种IC短路保护电压阈值检测电路。能够准确测量IC短路保护的电压阈值和延时。

本实用新型解决技术问题采用的技术手段是提供一种IC短路保护电压阈值检测电路，包括待检测IC模块以及为所述待检测IC模块提供工作电压的工作电源模块，所述待检测IC模块包括VM引脚、VSS 引脚以及DO引脚，所述检测电路还包括两端分别连接至所述VSS引脚和VM引脚的第一电阻R1以及连接至所述VM引脚用于为VM引脚提供测试电压的测试电源模块，所述VSS引脚接地，所述VM引脚和DO 引脚连接电压波形监测模块。

进一步地，所述测试电源模块包括与所述第一电阻R1并联的直流电压源，所述直流电压源的正极通过开关连接至VM引脚而负极连接至所述VSS引脚。

进一步地，所述直流电压源的输出电压可调。

进一步地，所述待检测IC模块还包括VDD引脚，所述工作电压模块的正极输出端连接至所述VDD引脚，所述工作电压模块的负极输出端连接至所述VSS引脚。

进一步地，所述电压波形监测模块包括示波器。

采用上述技术方案，本实用新型至少具有以下有益效果：本实用新型通过设有工作电压模块给待检测IC模块输出工作电压，然后通过在待检测IC模块的VSS引脚和VM引脚之间串联第一电阻R1，维持待检测IC模块的正常工作状态的同时确保测试电源模块输出测试电压至VM引脚时不跌落，使待检测IC模块能够正常启动短路保护，从而实现精确测量待检测IC模块短路保护时的电压阈值和延时的目的。

附图说明

图1是本实用新型IC短路保护电压阈值检测电路的结构框图。

图2是本实用新型IC短路保护电压阈值检测电路的电路结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。