[实用新型]一种激光光纤检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种激光光纤检测系统，属于传感器技术领域。

背景技术

现有的LED传感器以LED作为发光光源，其调制速度慢，LED是非相干光，光的发散角大，导致光斑大，能量不集中，只能用在很近的物体检测，同时LED受环境温度影响大，在环境温度较高或较低时，其发射能量波动大，导致检测稳定性差。

而LED类传感器有如下缺点：一、LED类传感器检测距离短LED；二、传感器反应速度慢；三、LED传感器不适合现代高精度细微的物体检测；导致原因为：一、LED能量扩散大，能量不能集中；二、LED调制速度不能到很高频率；三、LED是非相干光，不能聚焦成微米级的光斑。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型要解决的技术问题是提供一种激光光纤检测系统。

本实用新型的一种激光光纤检测系统，它包含机器主机、探头两个部分，探头内包括激光头以及聚焦透镜，作为发光源，探头内部还包括接收用途的光纤以及滤波透镜，用来将发射光传回到主机；探头与主机之间通过快速连接器连接，连接线材与连接器都带有电磁屏蔽功能，聚焦透镜与滤波透镜的前侧设置有保护镜片；所述机器主机上设置有支架，支架上安装有开关与锁紧件，所述锁紧件上设置有上下活动空间，所述开关与锁紧件连接，所述锁紧件与快速连接器锁接，所述快速连接器通过线材与探头连接。

作为优选，所述快速连接头内集成有电源线、信号线接口；所述机器主体的PCB板会安装相应配套的接口。

作为优选，所述快速连接头内集成有光纤接口，机器主体的PCB板上会安装相应配套的光纤头，光纤头与光纤接口连接。

作为优选，所述快速连接头插入到机器主体时，开关拔到锁紧位置时，快速连接头会被锁紧件锁紧在机器主体上。

作为优选，所述开关拔到松开位置时，锁紧件会松开，快速连接头可以轻松拔出；当机器主体或者线材或者探头 出现问题时快速更换。

一种激光光纤检测系统的工作方法，它的工作流程为：打开主机电源，ARM 32位机芯片发出命令，驱动器控制激光头出50KHZ的激光，接收部分通过光纤传回主机，然后模拟电路将信号放大，通过ARM自带的AD转换器进行12位AD转换，将模拟信号数字化，数据的大小实时显示在LED七段八字显示屏上，并输出控制信号。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：激光反应速度更快，能量更加集中，检测距离更远，同时激光可以通过APC电路，实现自动功率补偿，因此检测精度更高；激光光纤放大器可以通过透镜聚光，形成微米级的光斑，特别适合用来检测半导体芯片行业的亚微米的晶圆缺陷及绑定的微米级金线。

附图说明

为了易于说明，本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中探头的结构示意图；

图3为本实用新型中电路连接示意图；

图4为本实用新型中电路工作原理图；

图5为本实用新型中开关拨到锁接位置的结构示意图；

图6为本实用新型中开关拨到锁紧位置的结构示意图；

图7为本实用新型中快速连接头与机器主体分开的结构示意图；

图8为本实用新型中快速连接头的另一种结构示意图；

图9为本实用新型中机器主体的另一中结构示意图；

图10a、图10b、图10c、图10d为本实用新型中探头的各种形态示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本实用新型。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。

如图1至图10所示，本具体实施方式采用以下技术方案：它包含机器主机1、探头3两个部分，探头3内包括激光头3a以及聚焦透镜3b，作为发光源，探头3内部还包括接收用途的光纤3c以及滤波透镜3e，用来将发射光传回到主机；探头3与主机1之间通过快速连接器2连接，连接线材4与连接器2都带有电磁屏蔽功能，能够将外界电磁干扰屏蔽衰减到60DB以上。聚焦透镜3b与滤波透镜3e的前侧设置有保护镜片3d；所述机器主机1上设置有支架5，支架5上安装有开关6与锁紧件7，所述锁紧件7上设置有上下活动空间，所述开关6与锁紧件7连接，所述锁紧件7与快速连接器2锁接，所述快速连接器2通过线材4与探头3连接。