[实用新型]老化测试柜

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路板测试装置领域，尤其涉及一种老化测试柜。

背景技术

目前，在大批量电子产品的生产中对产品进行老化、测试是许多企业保证质量的必要步骤。现有的测试以及老化模式是在恒温老化房中排放测试货架，电路板产品置于货架上，通过操作人员人工接线连接电源进行测试，其有以下弊端：

1、现有老化测试柜的通过货架放置测试产品，然而，货架因需兼容各种型号产品导致占用空间大，空间利用率不高；

2、由于采用货架方式测试老化，其为开放式空间需对整个房间进行加温，加温效率低下且不环保，造成耗能浪费

3、电路板产品型号各异而货架设计主要考虑容纳量，只能通过人工接线与测试产品的连接，连接结构复杂，也不方便，造成产品测试效率低下；

4、现有老化测试柜的通过接线的方式实现测试装置与测试产品的连接，连接结构复杂，且各种电源线、信号线暴露在外杂乱排布，不美观而难以维修排查；

5、现有老化测试柜线路结构复杂，不能形成实现系统化信息监控，出现问题后需要安排较多人员检查多处，人力维修成本过高。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服原有老化测试柜占用空间大、设计不规整美观、能耗大等问题，以及老化测试柜在电路板老化和测试作业中产生的效率低下、人力成本高等问题，本实用新型提供一种老化测试柜，该老化测试柜不仅设计规整美观空间利用率高，能自动监控测试产品各项数据并通过封闭式的老化箱进行恒温老化降低能耗，抽屉式设计方便上下料提升效率。

本实用新型的技术方案如下：一种老化测试柜，包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备，还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组；所述测试模组包括：产品测试载板，以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板；所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针，另一面与电控箱电性连接；所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接，实现对测试产品的供电和信息监控。

进一步地，所述产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片，该感应片电性连接到测试产品上；产品测试时，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品。

更优地，所述卡槽的形状根据测试产品形状设置，每个卡槽周围对应设置有两组感应片，测试产品正向或反向放置时，测试产品上的感应点与其中一组感应片电性连接。

进一步地，所述老化测试柜还包括设置在柜体内的升降模组；所述电控箱与升降模组线性连接；所述升降模组带动测试探针基板与产品测试载板上的待测试产品接触或分离。

更优地，所述升降模组包括升降气缸和导向支架组件；所述导向支架组件包括基板固定架，所述测试探针基板设置在基板固定架的下方，所述基板固定架与升降气缸的输出轴连接，基板固定架在升降气缸的带动下升降，带动测试探针基板升降。

更优地，所述导向支架组件还包括四根导杆，所述基板固定架的四个角分别套在四根导杆上；所述产品测试载板设置在测试探针基板下方的四根导杆之间；所述基板固定架在升降气缸的带动下沿导杆上下滑动，带动测试探针基板升降。

进一步地，所述测试模组还包括产品测试抽屉，所述产品测试抽屉设置于产品测试载板下方，用于放置产品测试载板，更换产品测试载板时，将产品测试抽屉从柜体内抽出。

进一步地，所述老化测试柜还包括显示模块，所述显示模块包括：警示灯、数控显示屏、温控显示屏和按键板，用于控制和显示老化测试柜的运行情况。

采用上述方案，本实用新型有如下有益效果：

1、本实用新型采用柜式结构代替开放式的恒老化房，通过封闭式的柜体空间减少所需加温空间所需要的热能，从而降低能耗，达到在实现高效节能的基础上达到老化的目的；

2、本实用新型产品测试抽屉通过柜体上设计抽屉的方式能方便产品测试载板进出柜体，从而方便产品测试载板上测试产品的取放；其中，产品测试载板是根据测试产品型号设计的，可根据测试产品的结构更换，通用性强，适用性高；