[实用新型]工件批量检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种物料检测装置，尤其涉及一种工件批量检测设备。

背景技术

透光键帽，通常是在键帽上设置有个通孔，而在通孔内嵌入透明或半透明的材料。即使用时在键帽底部设置有光源，光源发光时光线可以从透明或半透明的材料处透过，键盘上部分键帽设置成透光键帽，便于使用者识别。

现有技术中需要针对透光键帽上透明或半透明材料处的透光性进行检查，以确保键帽安装到键盘前其透光性是良好的，不会出现透明或半透明材料处不透光或透光收到瑕疵的影响。

发明内容

本实用新型克服了现有技术的不足，提供一种工件批量检测设备。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为：一种工件批量检测设备，包括：沿导轨依次设置的检测工位和出料工位，所述检测工位上设置检测光源，所述检测光源正上方设置有检测CCD，所述出料工位包括沿导轨轴向分布的正品工位和次品工位，所述正品工位和所述次品工位上均设置有一个第一漏孔板，所述漏孔板上设置有若干个漏孔，每个漏孔下部均连接一个承接袋；

一载件体安转在所述导轨上并能够沿导轨运动到检测工位、正品工位和次品工位上，所述载件体包括第二漏孔板和位于所述第二漏孔板底部的抽拉板，所述抽拉板由透明材料制作，所述抽拉板与所述第二漏孔板叠合时能够封堵所述第二漏孔板上的漏孔。

本实用新型一个较佳实施例中，所述载件体位于所述检测工位时，所述载件体位于所述检测光源和所述检测CCD之间。

本实用新型一个较佳实施例中，所述载件体位于所述正品工位或次品工位时，所述载件体均位于所述第一漏孔板正上方。

本实用新型一个较佳实施例中，所述第二漏孔板位于第一漏孔板正上方时，所述第二漏孔板上的漏孔和所述第一漏孔板上漏孔的位置一一上下对应。

本实用新型一个较佳实施例中，所述第二漏孔板也由透明材料制作。

本实用新型一个较佳实施例中，所述承接袋均为筒形结构，筒形的所述承接袋上开口衔接所述第一漏孔板的漏孔，下开口通过夹子或扎绳封住。

本实用新型一个较佳实施例中，所述抽拉板由气缸控制进行抽拉动作。

本实用新型一个较佳实施例中，所述检测光源包括透明或半透明的面体，所述面体下方设置有灯体。

本实用新型一个较佳实施例中，所述导轨为相互平行的两个，两个导轨之间存在间距，所述第一漏孔板和所述检测光源均位于两个导轨之间。

本实用新型解决了背景技术中存在的缺陷，本实用新型具备以下有益效果：

（1）由于每个键帽组包括若干个一起开模生产的不同结构的透光键帽，不同结构的键帽对应一个漏孔，每个漏孔对应一个承接袋，因此同一个承接袋接收到的键帽均为相同结构的键帽。先在检测工位针对键帽进行检测，然后通过检测结果判断载件体下一步运动到正品工位或次品工位，正品工位的布袋承接本批次全部为合格正品键帽的胶帽组；次品工位的布袋承接本批次至少有一个次品键帽的胶帽组。

（2）抽拉板采用透明材质制作，灯具发出的光线便依次透过面体和抽拉板照射键帽，此时键帽的透明或半透明的材料处如果正常透光则为正品；此时键帽的透明或半透明的材料处如果透光不正常则为次品；抽拉板在检测过程中作为将键帽承托在漏孔内的承托底板，面体自身的透光性保证将灯具的光均匀分布在面体所在平面，形成光照条件均一的面光源，保证不同漏孔内的键帽的光照条件均一，检测条件相同。

（3）通过导轨可以保证载件体能够平稳的在检测工位、正品工位和次品工位之间来回运动，同时两个导轨之间的间隙空间正好容置检测光源、第一漏孔板和承接袋等。

（4）载件体包括的漏孔板和抽拉板组合在一起，同一个漏孔板上由中线风格成两个区域，每个区域承接同一个模具开模的多个不同结构的键帽组，抽拉板紧贴漏孔板时正好将漏孔全部封堵，每个漏孔便可以暂时容置不同结构的键帽，此时便可以通过检测设备进行检测，如果该批次出现至少一个次品键帽时，漏孔板便被载件体转移到次品工位，该区域内的键帽组此时对应的抽拉板抽出，漏孔内的键帽便从漏孔坠落到次品工位中对应的布袋中；而如果该批次为全部合格的胶帽组时，漏孔板便被载件体转移到正品工位，至少一个区域内的键帽组此时对应的抽拉板抽出，漏孔内的键帽便从漏孔坠落到正品工位中对应的布袋中。